把镜头调到广角,拍几张,然后同上,看看四周清晰与否。有没有暗角。另外看变形是否严重。
一般这样的相机是光学变焦+数码变焦,光学变焦最大的时候拍照,看噪点多少,对焦是否精确,然后再拉到数码变焦,看看效果如何。
如果有条件,带纯红色,纯蓝色,纯绿色板,看看相机广角和长焦有没有偏色。
从广角到长焦的变化速度如何,速度快适合抢拍,但是不利于精确细小的调整。速度慢不适合抓拍,但是精细的调整却更容易。
一般这样相机内置闪光灯都会被镜头挡出来一个阴影。看看阴影影响有多少。
有的相机可以外接镜头。这也是应该考虑的一点。
续航能力。显示屏显示是否有滞后。显示屏可以看的角度。一般都可以达到170°的可视度。还有是否需要翻转屏。看看相机从对焦到合焦到按下快门拍摄激活快门,延迟越短越好。
如果能在暗光下对焦准确为好。
光圈范围,快门速度,也要考虑。一般长焦相机都带全手动模式了。那么快门速度也应该是考虑范围内的。光圈能达到越大越好。
有些人喜欢相机重量轻的。认为携带方便,看个人的侧重点了。要是说摄影的角度,相机越重越好。因为对于长焦,越重越不容易抖动。抖动对于长焦而言是要被扩大的。
看开机启动速度。开机,然后是迎接画面,然后到正常拍摄模式,时间越短越好。
看CCD或者是CMOS尺寸越大越好,相等像素,尺寸越大成像越好。因为像素越高,单位像素面积接收的光越少,如果信号再被扩大,就会产生噪声(噪点)。再被色彩系统降噪,会影响成像质量。
多选几种,对比一下。多拍,看手感。看操作界面。有的操作界面很复杂,让人难以理解,有的一目了然。甚至有一些常用功能被放置在了相机表面。
看看上面的拨盘,阻尼是否适中,按键是不是过紧或过松。
拿货的时候注意镜头是否进灰,有杂质,特别是镀膜。一定要看自己。拉伸镜头听机械的声音。声音越小越好。镜头拉伸越平滑越好。
不知道满意否。
通过SEM可以观察到活性炭的表观形貌及晶体结构,而无法判断含氧官能团的存在与否。因此,SEM图片中出现白色部分不能断定为含氧官能团导致,只是有这个可能,还可能是由于电镜扫描得出的图片本身就会出现明暗交织的图像。1、放大率:
与普通光学显微镜不同,在SEM中,是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。
所以,SEM中,透镜与放大率无关。
2、场深:
在SEM中,位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深,通常为几纳米厚,所以,SEM可以用于纳米级样品的三维成像。
3、作用体积:
电子束不仅仅与样品表层原子发生作用,它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用,所以存在一个作用“体积”。
4、工作距离:
工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。
如果增加工作距离,可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离,则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。
5、成象:
次级电子和背散射电子可以用于成象,但后者不如前者,所以通常使用次级电子。
6、表面分析:
欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关,所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层(参见作用体积),所以只能用于表面分析。
表面分析以特征X射线分析最常用,所用到的探测器有两种:能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高,后者非常精确,可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。
观察方法:
如果图像是规则的(具螺旋对称的活体高分子物质或结晶),则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。
尤其用光过滤法,即只留衍射像上有周期性的衍射斑,将其他部分遮蔽使重新衍射,则会得到背景干扰少的鲜明图像。
扩展资料:
SEM扫描电镜图的分析方法:
从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中,有时因为背景干扰严重,只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。
图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系,所以将电镜像用光度计扫描,使各点的浓淡数值化,将之进行傅立叶变换,便可求出衍射像〔衍射斑的强度(振幅的2乘)和其相位〕。
将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换,则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。
扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。
参考资料:百度百科-扫描电子显微镜
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