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看观察的表面是否被遮挡,如果遮挡(类似光线)是看不到样品的,只能看到铝箔纸表面。sem常用电子束能量为20kev,对于铝材,穿透深度为3.4μm, 穿透能力很低。我知道最薄的铝箔10微米厚度。由于sem的成像原理是通过detecter获得二次电子和背散射电子的信号,而若样品不导电怎或造成样品表面多余电子或游离粒子的累积不能及时导走,一定程度后就反复出现充电放电现象(charging),最终影响电子信号的传递,造成图像扭曲,变形、晃动~~等等一些现象。建议:若果没有条件蒸镀导电膜的话 可以尝试用低真空做。二次电子信号来自于样品表面层5~l0nm,电子与样品原子的核外电子作用,一部分能量转移到原子,导致原子中的一个电子被逐出而产生二次电子.二次电子信号强弱与样品表面粗糙度有关,可利用二次电子成像的模式-SEI模式观察样品表面形貌.电子与样品原子的原子核发生弹性碰撞,电子方向发生改变,但无能量损失,这样的电子叫背散射电子.背散射电子信号强弱与样品原子的原子量有关,可利用背散射电子成像的模式-BSE模式观察样品表面元素分布情况.
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