苏大:批量低成本制备氮掺杂分层多孔碳纳米片,用于超级电容器

苏大:批量低成本制备氮掺杂分层多孔碳纳米片,用于超级电容器,第1张

成果简介

具有高比表面积的多孔碳纳米片已经成为超级电容器最有希望的电极材料,但是它们的高孔体积导致相对较低的密度和较差的体积电容。 本文,苏州大学Chong Chen等研究人员 在《Carbon》期刊发表名为“Scalable synthesis of strutted nitrogen doped hierarchical porous carbon nanosheets for supercapacitors with both high gravimetric and volumetric performances”的论文, 研究通过新型的D-葡萄糖酸钙爆炸技术成功地按比例合成了支撑氮掺杂的分层多孔碳纳米片(SNPCNS),该碳纳米管具有通过支撑支撑的三维非聚集结构。

调节热解温度和时间,以及D-葡萄糖酸钙和脲甲醛树脂的质量比,以优化SNPCNS的比表面积,孔体积和电容性能。经过优化的SNPCNS具有高比表面积(539 m2g -1),表面杂原子丰富(N为8.1 at。%)和高密度(1.11 g cm -3)。因此,由SNPCNS电极组装的超级电容器具有非常高的重量/体积电容,分别为286Fg-1/317Fcm-3(在6MKOH中)和355Fg-1 / 394Fcm-3(在1 MH 2中)所以4)。重要的是,实现了重离子/体积能量密度(在离子液体中)为40.5 W h kg -1 /44.9 W h L -1(在离子液体中),优于先前报道的基于碳纳米片的对称超级电容器。这项工作为大规模和低成本生产用于能量存储的高性能多孔碳纳米片提供了新的策略。

图文导读

图1。氮掺杂分层多孔碳纳米片的合成示意图。

图2。SNPCNS-1:1-800-2h的(ab)SEM图像,(ce)TEM图像,(f)AFM图像和(gi)EDX元素映射图像。

图3。(a)XPS调查,(b)SNPCNS-1:1-800-2h的C1s,(c)N1s和(d)O1s光谱。

图4。SNPCNS材料通过热膨胀和热解转化制备过程的示意图。

图5。(a)20 mV s -1时的CV曲线,(b)1 A g -1时的GCD曲线,以及(c)SNPCNS样品在6 M KOH溶液中的体积电容。(d)在6 M KOH溶液中SNPCNS-1:1-800-2h的GCD曲线。(e)SNPCNS-1:1-800-2h在1 MH 2 SO 4和6 M KOH溶液中的奈奎斯特图。(f)SNPCNS-1:1-800-2h电极的重量/体积电容与其他报道的碳电极的比较。

图6。SNPCNS-1:1-800-2h在6 M KOH和[EMIm] NTf 2电解质中的电化学性能。

小结

总之,开发了一种D-葡萄糖酸钙爆炸技术,可以轻松而可规模地合成一种支链的氮掺杂分层多孔碳材料。 SNPCNS的高产量生产和出色的电容性能使其能够在超级电容器中进行大规模应用。

文献:

https://doi.org/10.1016/j.carbon.2021.04.062

1、放大率:

与普通光学显微镜不同,在SEM中,是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以,SEM中,透镜与放大率无关。

2、场深:

在SEM中,位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深,通常为几纳米厚,所以,SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积:

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用,它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用,所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离:

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离,可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离,则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象:

次级电子和背散射电子可以用于成象,但后者不如前者,所以通常使用次级电子。

6、表面分析:

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关,所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层(参见作用体积),所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用,所用到的探测器有两种:能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高,后者非常精确,可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法:

如果图像是规则的(具螺旋对称的活体高分子物质或结晶),则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法,即只留衍射像上有周期性的衍射斑,将其他部分遮蔽使重新衍射,则会得到背景干扰少的鲜明图像。

扩展资料:

SEM扫描电镜图的分析方法:

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中,有时因为背景干扰严重,只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系,所以将电镜像用光度计扫描,使各点的浓淡数值化,将之进行傅立叶变换,便可求出衍射像〔衍射斑的强度(振幅的2乘)和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换,则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。

参考资料:百度百科-扫描电子显微镜


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