简述利用SEM、TEM、FTIR、Raman、CV、EIS、BET、XRD和质谱可获得什么信息？

SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息

TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成

FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。如单键，双键等等

Raman：通过测定转动能及和振动能及，用来测定材料的结构。

CV：CV曲线可以测试得到很多信息，比如所需电沉积电压，电流，以及半导体行业可以得到直流偏压

EIS：EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位，阻抗信息，从而模拟出系统内在串联电阻，并联电阻和电容相关信息

BET：主要是测试材料比表面积的，可以得到材料的比表面积信息。

XRD：主要是测试材料的物性，晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。

质谱：主要用于鉴定材料的化学成分，包括液相质谱，气象质谱

sio2是原子晶体，是玻璃的主要成分.二氧化硅不能与水直接化合成为酸，能跟碱性氧化物或者强碱溶液或熔融状态下反应，常与naoh生成硅酸钠。sio2+naoh=na2sio3+h2o

sio2化学性质较为稳定。sio2还能与hf(氢氟酸）反应

sio2+4hf=sif4+2h2o

si3n4及活性炭黑为原料，按照两者质量比为31制成试样。在埋炭条件下，将试样分别在1480

℃、1500

℃、1550

℃和1600

℃保温3

h热处理。利用sem、eds及xrd等检测方法，结合热力学分析，研究了高温状态下β?si3n4在含碳耐火材料中的稳定性以及作为过渡相向碳化硅的转化。结果表明：在该试验条件下，β?si3n4在含碳材料中将作为过渡相向sic转化，明显的转化温度＞1500

℃，1600

℃仍存在较多未转化的氮化硅；氮化硅颗粒与炭黑的反应主要从接触面开始，然后向内逐步推进；β?si3n4的粒度对其转化率影响较大。

sio2当达到1873k时熔化也就是1599.85℃

si3n4当达到1000℃时熔化。

0.1克左右。

首先SEM扫描电镜测试对样品的要求并不高，粉末、液体、固体、薄膜、块体均可测试，块体样品要求长宽小于1cm，厚度小于1cm左右。

粉体样品，常规粉末直接粘到导电胶上测试，如需分散后测试要提前与试验室工作人员说明。

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