sem通过探测哪种信号来获取样品表面成分信息

sem通过探测哪种信号来获取样品表面成分信息,第1张

sem通过探测信号来获取样品表面成分信息,扫描电镜可粗略分为镜体和电源电路系统两部分。镜体部分由电子光学系统、信号收集和显示系统以及真空抽气系统组成。

电子光学系统,由电子枪,电磁透镜,扫描线圈和样品室等部件组成。其作用是用来获得扫描电子束,作为信号的激发源。为了获得较高的信号强度和图像分辨率,扫描电子束应具有较高的亮度和尽可能小的束斑直径,信号收集及显示系统。

检测样品在入射电子作用下产生的物理信号,然后经视频放大作为显像系统的调制信号。现在普遍使用的是电子检测器,它由闪烁体,光导管和光电倍增器所组成。

真空系统真空系统的作用是为保证电子光学系统正常工作,防止样品污染,一般情况下要求保持10-4~10-5Torr的真空度。

扫描电镜就是这样采用逐点成像的方法,把样品表面不同的特征,按顺序,成比例地转换为视频信号,完成一帧图像,从而使我们在荧光屏上观察到样品表面的各种特征图像。

入射电子束射入样品表面,扩散成一个水滴状,从上至下激发出的信号有:

1、俄歇电子,深度埃米级别:能量很弱,扫描电镜探测器不能采集,有专门的俄歇电镜和俄歇能谱仪;

2、二次电子,深度亚微米到5μm级别:二次电子又分SE1和SE2,分别被电镜不同二次电子探测器接收,形成形貌像;

3、阴极荧光、连续X射线:扫描电镜探测器不能采集;

4、背散射电子:扫描电镜背散射探头采集,可形成元素成分分布像和元素成分+形貌像;

5、特征X射线:扫描电镜能谱仪接收,形成元素成分分布像和元素含量分布结果;

6、吸收电子:吸收了,没有然后;

7、透射电子:亚微米到微米级别厚度的样品可能透过样品产生透射电子,需要借助透射电镜采集,形成透射电镜像或者能谱结果。

我以前也毕设也做过电镜,是大肠杆菌的细胞表面的纳米金属颗粒,扫描电镜,透射电镜两个都做了。最后写论文的时候就用了扫描电镜的图,你说看主要做形貌,凡是需要看物质表面形貌的,都可以用扫描电镜,不过要要注意扫描电镜目前分辨率,看看能否达到实验要求。

两种测试手段的适用情况

凡是需要看物质表面形貌的,都可以用扫描电镜,不过最好的扫描电镜目前分辨率在0.5~1nm左右。如果需要进一步观察表面形貌,需要使用扫描探针显微镜spm(afm,stm).

如果需要对物质内部晶体或者原子结构进行了解,需要使用tem.

例如钢铁材料的晶格缺陷,细胞内部的组织变化。当然很多时候对于nm

材料的形态也使用tem观察。

区别

扫描电镜观察的是样品表面的形态,而透射电镜是观察样品结构形态的。一般情况下,透射电镜放大倍数更大,真空要求也更高。

扫描电镜可以看比较“大”的样品,最大可以达到直径200mm以上,高度80mm左右,而透射电镜的样品只能放在直径3mm左右的铜网上进行观察。


欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云

原文地址:https://www.xiayuyun.com/zonghe/293536.html

(0)
打赏 微信扫一扫微信扫一扫 支付宝扫一扫支付宝扫一扫
上一篇 2023-04-24
下一篇2023-04-24

发表评论

登录后才能评论

评论列表(0条)

    保存