怎样从SAED图谱区分单晶和多晶

看品 绝数看 般情况普通SEM图能用证明材料单晶 确定材料晶材料通SEM观察晶界（能需要进行些预处理比腐蚀） 于陶瓷材料肯定晶直接掰能用SEM看晶界晶粒于金属材料通腐蚀观察晶界于薄膜材料腐蚀观察晶界 于金属品种叫：电背散射衍射种需要品抛光非平整观察品表面结晶向种辨率较低种般用析金属金相组织几乎用做单晶定性析 坚定单晶X射线衍射便便宜SEM判断否单晶说服力差些品SEM图看否晶SEM般作坚定单晶依据通其证明材料单晶用SEM图作佐

金相观察是依赖可见光的反射,其原理是被腐蚀的晶界处发生漫反射,在照片上是暗的未被腐蚀的晶粒内部发生的是镜面反射,在照片上是亮的.SEM分二次电子像和背散射电子像:二次电子像必须腐蚀样品,不腐蚀的话什么都看不到.照完金相的样品可以直接照二次电子,但照片的情况有所不同,<1000倍时,二次电子像观察到的晶界是亮的,因为晶界被腐蚀掉,样品在晶界出现棱角,二次电子的产额大,因此是量的,晶界内部反而暗.如果倍数放到足够大,能够看清晶界处的腐蚀程度和凹凸情况背散射电子像是分析样品的成分分布,最好不要腐蚀样品,因为腐蚀样品会把第二相腐蚀掉.

AFM图中的颜色代表不同的高度，颜色越亮，代表这个位置的高度越高；颜色越暗，代表高度越低。

1、你给的文件中，上面那幅图中一堆亮的点是由于高度过大或者扫描参数没有调到最佳值，成像有点失真。对于高度的测量应该还有一个Z方向的标尺，通过AFM的相关软件可以直接分析。

2、下面的两张图中就给出了那条亮线对应的高度，及相同颜色两点的高度差。

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