放大5万倍
工作距离 11mm
ETD : E-T型二次电子探测器
Spot,束斑大小控制参数
成像模式:二次电子像
2μm 比例尺 scale
FEI 是公司名称 后边是sem型号
这是EDAX公司制造的EDS 采集SEM图像做能谱分析时候的信息,具体如下:KV 加速电压 :15千伏特
Mag(magnification) 放大倍数:1700倍
TILT 样品台倾斜角度:0°
MicronsPerPixY 样品上编制的每个像素面积:0.071平方微米。可以换算成束斑尺寸,直径大概300nm。
就定量来说,SEM点分析比线分析和面分析更准确,扫描的方式不同,线分析和面分析只能定性的分析观察视场的元素分布情况(线分析是沿着某个界面的元素分布起伏,而面分析是看整个视场的元素分布情况),点分析可以基本定量分析元素。SEM/EDS是扫描电子显微镜和X-射线能量色散谱仪的简称,两者组合使用,功能非常强大,既能观察微区的形貌又能对微区进行成分分析,在各类分析工作中被广泛运用。
EDS mapping时间就长的多了,尤其是如果想得到比较确定的数据的话,一个线扫就可以耗费半个小时。EDS mapping的分辨率不仅取决于束斑尺寸,由于收集时间比较长,样品漂移的影响更大,所以比eels mapping 差不少。
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