断口
的形貌吧,是否会影响观察玻璃涂层的厚度呢。
透射不是用来看面 的MCWANDE(站内联系TA)TEM应该是可以做的. 只不过是制样比较麻烦. 一般应该是要切片和打磨, 使得样品足够薄. 你可以GOGGLE一下, 应该可以找到可参考的PROTOCOL的.zhuzhen(站内联系TA)cross-sectional TEM,关键是制样,材料测试版有人问过类似问题,可搜下wyw423(站内联系TA)好像可以树脂镶嵌然后切片来看,当然这是指比较容易切得样品了还有就是用玻璃保护镶嵌好了,磨片子,离子减薄yuan0019(站内联系TA)截面的话还是sem吧,简单很多的。MCWANDE(站内联系TA)SEM放大倍数没有TEM大, 纳米颗粒的细节一般看不到.现在还有三位TEM, 通过多个不同旋转角度的成像还原纳米颗粒的三维全貌. 不过最好由专业技术人员做比较好.dsc516(站内联系TA)用SEM好啊!如果要TEM的话,可能需要对截面进行处理,比如镀金。不镀的话,那TEM的电子穿透能力要调低。参与!!hongxinglee(站内联系TA)必须进行超薄切片,这个工艺本身就是一项研究,你可以联系别人给你做!制样的钱可能比看TEM的钱贵好几倍,中科院物理所电镜室最好了!但可能很贵,如果你的样品很好,必须做,做了能上很好档次的文章你可以试试。不然我还不觉得你不做算了!欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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