SEM和FIB之间的区别

FIB带有SEM功能；FIB另外的功能就是微纳加工。

SEM是电子束成像原理.

FIB中带有电子束成像,也可以离子束成像（一般不用,对样品表面形貌损伤太大）.

如果您只观察形貌的话,用SEM即可,FIB的电子束成像方面和SEM都一模一样.

FEI 是一家生产、经营电镜科学仪器的业内全球领先企业。 其产品包括电子和离子束显微镜，以及可满足多个行业纳米尺度应用的相关产品，这些行业横跨： 工业和理论 材料研究、生命科学、半导体、数据存储、自然资源 等等诸多领域。凭借过去 60 年的技术创新历史和业内领导地位， FEI 成为了透射电子显微镜 (TEM)、 扫描电子显微镜 (SEM)、结合了 SEM 与聚焦 离子束 (FIB) 的 DualBeam™ 仪器和 用于精密高速切割与加工的专用聚焦离子束仪器的 性能标准。 FEI 成像系统在三维表征、分析 和修改/原型设计领域实现了 亚埃（埃：十分之一纳米）级分辨率。 FEI NanoPorts 在中国上海、美国俄勒冈州波特兰、荷兰埃因霍温 和东京均有设点，它们都是卓越中心。在这里，众多科学家、研究者以及工程师 都可在 FEI 应用专家的直接帮助下 体验世界级显微 分辨率。 本公司有近 1800 名员工，已在全球超过 50 个国家或地区开展了 销售和 服务业务。

当今世界正不断开拓针对纳米技术的新领域。从体积更小、功能更强大的电子设备到高性能材料，从智能药物到梦想出现可用于体外治疗的纳米机器--本世纪最伟大的某些创新都是着眼于纳米技术的。而纳米级研究工具则FEI公司独占鳌头。我们是世界上最顶尖的纳米级研究、探索和设计的引领者。FEI向全球领先的研究开发机构提供全面的纳米和原子尺度表征、纳米分析、纳米加工和纳米原型设计工具。这些工具包括透射电子显微镜TEM、描电子显微镜SEM、聚焦离子束FIB以及扫描电镜SEM/聚焦离子束FIB“双束”显微镜等。

FEI 在全球所建立的组织可快速、高效地服务客户。我们在全球拥有超过1,700 名的工程、应用、服务和协作支持人员；在北美和欧洲则拥有研发及制造中心；在北美、欧洲和亚洲还拥有产品及纳米技术解决方案中心，并在全世界50 多个国家建立了销售及支持部门。

FEI中国包括以下机构和办公室:

上海代表处: 国内销售和售后服务中心（包括香港，澳门）

北京代表处: 北京及其北方地区销售和售后服务

广州联络处: 广东地区销售和售后服务

武汉联络处: 湖北地区销售和售后服务

FEI公司目前在国内和香港有近50名员工, 其中半数以上是售后服务工程师, 他们认真负责的工作态度和精湛的技术水平在国际上的同类公司中出类拔萃。

FEI在国内定期和不定期地举办各类用户会议、技术交流会、讲座、专题培训等活动, 同时大力支持中国电镜学会、地方电镜学会等学术团体开展活动。

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