什么是一次颗粒物？什么是二次颗粒物

颗粒物，又称尘。大气中的固体或液体颗粒状物质。

颗粒物可分为一次颗粒物和二次颗粒物。一次颗粒物是由天然污染源和人为污染源释放到大气中直接造成污染的颗粒物，例如土壤粒子、海盐粒子、燃烧烟尘等等。二次颗粒物是由大气中某些污染气体组分（如二氧化硫、氮氧化物、碳氢化合物等）之间，或这些组分与大气中的正常组分（如氧气）之间通过光化学氧化反应、催化氧化反应或其他化学反应转化生成的颗粒物，例如二氧化硫转化生成硫酸盐。

未团聚的颗粒称为一次颗粒，有团聚的颗粒，称为二次颗粒，团聚颗粒再团聚形成的颗粒称为三次颗粒，以此类推。颗粒堆积体的孔隙度受团聚的影响极大，举例说，对同一大小的球体，它形成的堆积体孔隙度约0.38，与球的尺寸无关。现在如果设想球状粉形成大小划一的球状团粒，那么由球状团粒堆积的堆积体，除了每个团粒“内部”孔隙度是0.38，这些团粒堆积的“外部”孔隙度也是0.38，堆积体的总孔隙度变为0.38+0.38×(1-0.38)=0.62。这种团聚效应，对于<0.5μm的细粉是必须考虑的，加上三次团聚，四次团聚等，它可以解释为什么细粉堆积体的孔隙度往往高于0.7，以及透过法对它测出的表面积往往偏低。

从书上查了一些内容，书的年代比较久远，可能买不到...有兴趣的话，尝试着去图书馆借一下吧。

SEM工作时，电子枪发射的入射电子束打在试样表面上，向内部穿透一定的深度，由于弹性和非弹性散射形成一个呈梨状的电子作用体积。电子与试样作用产生的物理信息，均由体积内产生。

二次电子是入射电子在试样内部穿透和散射过程中，将原子的电子轰击出原子系统而射出试样表面的电子，其中大部分属于价子激发，所以能量很小，一般小于50eV。因此二次电子探测体积较小。二次电子发射区的直径仅比束斑直径稍大一些，因而可获得较高的分辨率。

二次电子像的衬度取决于试样上某一点发射出来的二次电子数量。电子发射区越接近表面，发射出的二次电子就越多，这与入射电子束与试样表面法线的夹角有关。试样的棱边、尖峰等处产生的二次电子较多，相应的二次电子像较亮；而平台、凹坑处射出的二次电子较少，相应的二次电子像较暗。根据二次电子像的明暗衬度，即可知道试样表面凹凸不平的状况，二次电子像是试样表面的形貌放大像。

SEM内在试样的斜上方放置有探测器来接受这些电子。接受二次电子的装置简称为检测器，它是由聚焦极、加速极、闪烁体、光导管和光电倍增管组成。在闪烁体前面装一筒装电极，称为聚焦极，又称收集极。在其前端加一栅网，在聚焦极上加250-300V的正电压。二次电子被此电压吸引，然后又被带有10kV正电压的加速极加速，穿过网眼打在加速极的闪烁体上，产生光信号，经光导管输送到光电倍增管，光信号转变为电子信号。最后输送到显示系统，显示出二次电子像。

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