1、当光栅平面与入射角不垂直时, 以及平行光管的狭缝与光栅刻痕不平行时都会使测量产生实验误差。
2、当平行光管的狭缝测量值大于真实值, 且入射光偏离光栅平面法线越多, 则产生的实验误差就会愈大。
3、当光栅刻痕的测量值小于真实值时, 且平行光管的狭缝与光栅刻痕的夹角越大, 则测量值λ减小的就越多,即实验误差就越大。
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这个实验的主要误差在于用光强来判断两套莫尔条纹重合的光强测量精度。因此,提高测量精度的主要方法是提高光强测量精度。
干涉条纹重迭法中,单独每一套条纹在空间任一位置对比度都比较好,因此,当两套干涉条纹重合时,对比度是更好的,测量将是更精确。此方法的条件限制是要求试件φ角比较小。
参考资料:中国知网-光栅实验的误差分析
实验误差主要有以下几点:
1、单色光不够严格以及阴极光电流的遏止电势差的确定。
2、光电管的阳极光电流和光电流的暗电流因素。
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光电效应和普朗克常量的测定
一、实验目的
1、了解光电效应的基本规律;
2、掌握普朗克常量的测量方法;
3、掌握光电管的伏安特性和光电特性的测量方法。
二、实验仪器
ZKY-GD-4 智能光电效应实验仪(包括汞灯及电源,滤色片,光阑,光电管和智能实验仪)。
利用光电管制成的光控制电器,可以用于自动控制,如自动计数、自动报警、自动跟踪等等。它的工作原理是:当光照在光电管上时,光电管电路中产生电光流,经过放大器放大,使电磁铁M磁化,而把衔铁N吸住,当光电管上没有光照时,光电管电路中没有电流,电磁铁M就自动控制,利用光电效应还可测量一些转动物体的转速。
参考资料来源:百度百科-光电效应
参考资料来源:百度百科-普朗克常量
你当然可以这么做,只是误差比较大。实际一般情况我们只需要知道相对量就好了,并不需要这么精确的数值。
如果确实需要精确数值,那需要标定,毕竟不同元素的响应值区别还是很大的。
实际上,你的ZSM-5的硅铝比就能验证,SEM数值跟化学法数值差距还是很大的;但这并不妨碍很多人直接用SEM数据表征他们样品的硅铝比
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