求教，透射电镜观察线粒体

扫描电镜只能观察放入的样品表面，识别表面信号厚度约为1微米左右，因此用SEM观察必须要线粒体暴露出来。

透射电镜只能观察亚微米级别（＜1微米）厚度样品，因此细胞要做切片处理，切出线粒体，或者直接抽提线粒体。

超薄切片：锇酸固定，酒精脱水，甲基丙烯酸甲酯或环氧树脂包埋，最后切片。

冰冻蚀刻术：利用快速冷冻标本，冰刀切割，再铂炭升华。

扩展资料：

电子显微镜与光学显微镜的成像原理基本一样，由于电子束的穿透力很弱，因此用于电镜的标本须制成厚度约50nm左右的超薄切片。

电子显微镜的放大倍数最高可达近百万倍、由照明系统、成像系统、真空系统、记录系统、电源系统5部分构成，如果细分的话：主体部分是电子透镜和显像记录系统，由置于真空中的电子枪、聚光镜、物样室、 物镜、衍射镜、中间镜、 投影镜、荧光屏和照相机。

参考资料来源:百度百科-透射电子显微镜

SEM 固体材料样品制备方便，只要样品尺寸适合，就可以直接放到仪器中去观察。样品直径和厚度一般从几毫米至几厘米，视样品的性质和电镜的样品室空间而定。对于绝缘体或导电性差的材料来说，则需要预先在分析表面上蒸镀一层厚度约10～20 nm的导电层。 否则，在电子束照射到该样品上时，会形成电子堆积，阻挡入射电子束进入和样品内电子射出样品表面。导电层一般是二次电子发射系数比较高的金、银、碳和铝等真空蒸镀层。 在某些情况下扫描电镜也可采用复型样品。SEM样品制备大致步骤： 1. 从大的样品上确定取样部位； 2. 根据需要，确定采用切割还是自由断裂得到表界面； 3. 清洗； 4. 包埋打磨、刻蚀、喷金处理

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