sem看二氧化硅薄膜看不到怎么办

要是放大倍数要求不大的话，建议采用环境扫描电镜，那个在20000倍以下，成像效果挺好的。我的是喷金以后，用场发射电镜，效果也挺好的啊

你是不是用手不小心抹掉了，二氧化硅薄膜很脆弱的

你看看电子显微镜的测试原理，SEM本来就是靠检测电子束打到样品表面之后的反射电子来观察材料表面形貌的。对于高分子而言，不像金属那样能激发出反射电子所以很难做出图像，所以才要进行喷金处理。看结晶晶体的话用带有热台的偏光显微镜比较好，SEM可能看不出。

�挥幸话俚陌伞�pwang526(站内联系TA)用ICP看看，XPS也精度不够的雏烹(站内联系TA)ICP 貌似 也很贵 :rol:dafeng001(站内联系TA)看lz是测什么元素啦，对于轻元素EDS测得也不准啦，如果有时有新的物相就做XRD，如果可以挂下来 做个红外， 当然 这样看你要测的是什么元素 化学分析的方法也是可以的 总之 lz给的信息太少了songjinlong(站内联系TA)表面氟化处理了 想要测O C F Sisongjinlong(站内联系TA)Originally posted by dafeng001 at 2011-03-04 15:42:14:

我想O F Si的含量是微量的吧 我现在想用电子探针测 您看 能行吗 电子探针和EDS差不太多 都是半定量的 实在需要这个数据 还是做个元素分析吧xiaxue_326(站内联系TA)用FTIR，红外测试试试吧，也是表征成分的。

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