电子探针仪与扫描电子显微镜有何异同

二者最主要的不同是其工作肌理不同。

电子探针仪，学名应该是扫描隧道显微镜（scanning tunnel microscopy，STM）,它的工作原理是用一个针尖在离样品表面极近的位置慢慢划过，样品和针尖上加有恒定电压，随着针尖和样品起伏不平的表面原子距离的改变，二者间的电流会有变化，记录这个电流的变化进行处理后，可以得到表面的形貌像，这是其中的一个工作方式，还有针尖位置不变，电压变化的工作方式等。另外STM发展的非常蓬勃，衍生出很多其他类似的分支电镜，如AFM等。

扫描电子显微镜（scanning electron microscopy,SEM),是通过电子束对样品表面进行反复的扫射，通过探头收集反射回来的二次电子和背散射电子来进行成像。

二者相同的地方则是主要用作测样品表面形貌的仪器

你可以搜索一下残余应力测量方法，X射线法、磁性法和超声法能无损测定残余应力；XRD衍射是测定物相的，（比如分辨氧化铝是阿尔法相，贝塔相还是伽马相），一般测量精度较差，大于5%以上可以分辨，也可以进行粗略的半定量分析；

透射电镜TEM观察的样品是薄样品（厚度约200um），有成像模式和衍射模式两种工作方式。可配备EDS和EELS（电子能量损失谱），用于分析微区形貌、成分、晶体结构、晶体缺陷等；

扫描电镜和电子探针一般做形貌分析，分背散射和二次电子两种模式，背散射可以根据致密材料的明暗程度分辨不同的相，二次电子景深较高，成像较清晰，可以做粉体、多孔材料和致密材料的形貌分析；电子探针即EPMA(电子探针显微分析)，最初的目的是以电子束为探测源来分析样品中微区的化学成分，一般配备波谱仪。而扫描电镜SEM，其最初目的是为了观察样品表面形貌，一般配备能谱仪。现在，电子探针上也可配备能谱仪，扫描电镜上也可配备波谱仪，EPMA和SEM并没有本质上的区别；

能谱仪和SEM，EPMA配备在一起，用于选定显微区域的成分分析。

红外光谱分析可用于研究分子的结构和化学键，也可以作为表征和鉴别化学物种的方法，有机领域用的多；

拉曼光谱的原理是拉曼散射效应，对与入射光频率不同的散射光谱进行分析以得到分子振动、转动方面信息，从而可以鉴别物质，分析物质的性质。

具体的请查阅相关资料

岩矿鉴定：

是指应用各种矿物学原理与方法，通过矿物的光、电、声、热、磁、重、硬度、气味等以及其主要的化学成分特征，对岩石、矿物样品、包括光（薄）片、砂片、碎屑、粉末进行观察、鉴定以区别其矿物类别，以及研究岩石、矿石的主要矿物组成、矿物成生序列，结构、构造、岩（矿）石类型的技术方法。

光学显微镜法：

(1)偏光显微镜祛将矿物或岩石标本磨制成薄片，在偏光显微镜下鉴定矿物的光学性质，确定岩石的矿物成分，确定岩石类型及其成因特征，最后定出岩石名称的工作，又称岩石薄片鉴定法。

这是研究矿物岩石最常用的方法。可以获得矿物的颜色、形状、大小、折光率、消光角、重折率、干涉色、轴性、光轴角等光学常数，还能获得矿物的形成顺序、次生变化、体积百分含量以及岩石的结构构造、胶结类型等特征，进而对岩石进行正确的定名。为了获取更精确的光轴角、消光角数据、折光率数据，

可再选用费氏台法、油浸法或干涉显微镜法等。

(2)反光显微镜法。主要用于金属矿物及矿石的研究，还广泛应用于非金属材料的研究。

热分析方法：

该方法是根据在热处理过程中发生的热效应(如吸热、放热)来鉴定矿物或混合物的组成。常用的方法有差热分析和综合热分析。

电子显微镜分析：

常用的仪器有透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)、电子探针(EPMA)等。

X射线物相分析：

对结晶物质的物相进行分析的一种有效方法

谱学分析：

1、谱学方法有数十种，在矿物学.上常用的有红外光谱、拉曼光谱、穆斯堡尔谱、核磁共振被谱等。

2、以红外光谱为例，每种矿物都有自己的特征光谱，红外光谱就是利用矿物的特征谱线监定未知矿物及混合物中主要组成矿物的定量确定，研究矿物类质同像置换、有序一无序现象、水的存在形式、标型特征等。

---