超细银粉sem制样怎么做

（1）对清洗过后的溶液，进行稀释过后采用的是上清液做测试还是下层浓溶液测试（理论粒径为50nm和200nm）

最好都测试一下，二者可能尺寸上面有区别。

（2）银粉溶液制备成功以后，没有立即表征，遮光静置几天后，再做电镜表征，是否有影响

只要排除对于样品无影响，可以。

（3）是否需要干燥以后，取出粉末，再用乙醇溶解，取用这个溶液制样

可以滴在导电硅片上。也可以做粉末置于导电胶上。

检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜。扫描电镜SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。测sem时的硅片的作用检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜，硅片是生产集成电路、分立器件、传感器等半导体产品的关键材料，是半导体产业链基础性的一环。

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