用SEM测超薄薄膜厚度,如何制样才能保证导电性足够好?

用SEM测超薄薄膜厚度,如何制样才能保证导电性足够好?,第1张

想准确测定厚度还是很麻烦的,关键就在于制样,关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的,标准名称我不太记得了,改天给你发过来也行(如果需要),大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍,然后把材料固化在树脂中,再做截面,或者抛光,然后再测定,关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题,喷金或者喷碳就可以解决.

既然是看膜,就需要楼主决定要看自然状态下的膜,还是制品的膜形貌了,制品自然要按照工艺制膜。如果能够拿到膜,可以直接用聚合物膜粘在我提到的导电胶带上,处理方式和之前回答你的一样,喷金、引导电胶。


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