纳米材料sem相比于afm是不是更容易聚集

xrd是x射线衍射，可以分析物相，SEM是扫描电镜，主要是观察显微组织，TEM是透射电镜，主要观察超限微结构。AES是指能谱，主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜，也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜，主要是观察表面形貌用的-----回答的不是

TEM最为直观。可以通过图像利用统计学计算出粒径，另外可以通过XRD，通过谢乐公式计算出一次颗粒的平均粒径，另外，固体紫外漫反射也可以通过公式计算得到粒径。BET是没用的，他只能做比表面积及孔径分布。

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