高倍透射显微镜如何解释暴露的晶面

暴露的晶面是由于载玻片物体的不同所产生的不同晶面。

晶面有条纹与格子，这两种晶面会出现哪一种要看电子入射方向晶体面的夹角，如果夹角不合适可能只出现一种晶面的衍射。

简单的一维棒状和管状，纳米线之类的通过TEM就能确定复杂一些的，通过SEM观察其形貌画出其几何模型再通过TEM表征，确定可能的晶面计算晶面间二面角，确认是否和SEM比TEM观测到的图像及几何模型吻合，这样就能推出各个面的晶面指数。

对于零维和一维纳米材料，SEM观察时需要分散。一般使用有机溶剂加分散剂，超声波分散，离心沉淀后用吸管取上清液，滴在干净的硅片或载玻片上，干燥后用导电胶带粘取。

具体沉淀时间或离心机的参数，需要多做几次试验，针对不同的材料特点，选择好的条件。

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