我做的薄膜SEM与XRD试验,图片与数据不会分析,跪求准确分析?

我做的薄膜SEM与XRD试验,图片与数据不会分析,跪求准确分析?,第1张

不同很正常,因为可能你的样品不是均一的,导致差异。这个SEM测试的是particle不是grain size!谢乐公式可以用,因为不超过几百纳米。你不懂得太多,建议上小木虫多多充电!

1、放大率:

与普通光学显微镜不同,在SEM中,是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率,只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以,SEM中,透镜与放大率无关。

2、场深:

在SEM中,位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深,通常为几纳米厚,所以,SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积:

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用,它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用,所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离:

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离,可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离,则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象:

次级电子和背散射电子可以用于成象,但后者不如前者,所以通常使用次级电子。

6、表面分析:

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关,所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层(参见作用体积),所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用,所用到的探测器有两种:能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高,后者非常精确,可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法:

如果图像是规则的(具螺旋对称的活体高分子物质或结晶),则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法,即只留衍射像上有周期性的衍射斑,将其他部分遮蔽使重新衍射,则会得到背景干扰少的鲜明图像。

扩展资料:

SEM扫描电镜图的分析方法:

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中,有时因为背景干扰严重,只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系,所以将电镜像用光度计扫描,使各点的浓淡数值化,将之进行傅立叶变换,便可求出衍射像〔衍射斑的强度(振幅的2乘)和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换,则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描,激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像,获得测试试样表面形貌的观察。

参考资料:百度百科-扫描电子显微镜

您好!现在有很多果粉不敢在网上买手机保护膜,原因就是怕自己贴了后起泡,如果一张手机膜贴了起泡,基本上就是报费了。 那如何才能给iphone6贴膜不起泡了呢?

第一:贴前工具一定要充分

我们今日就拿iphone6纳米膜来做个例子,在贴膜前,首先需要用干湿酒精包将 屏幕擦拭干净,如果屏幕擦拭不干净,起泡是100%的。 所以屏幕干净与否很关键,果粉们一定要擦拭干净了哈

第二:注意识别粘贴面----底膜(有吸附能力)贴有“①Please peel off this mask BEFORE application”的标签. 裱膜(防刮耐磨性)贴有“②Please peel off this mask AFTER complete”的标 签。 这一步也相当的重要,如果顺序搞反了,底膜粘了灰尘也是去不掉的

第三:拉开iphone6纳米膜的保护底膜,将保护贴面朝下,拉开保护贴底膜约一 厘米,请避免手指碰触有吸 附能力贴面,以避免灰尘吸附影响静电吸附

第四:保护贴粘贴—--将保护贴有吸附能力面朝下,对齐屏幕下边缘贴齐,从下 往上贴.一边稍 微用力粘贴一边将保护底膜缓缓拉出,贴上的同时尽可能缓慢并确认贴附良好,避免气泡产生

第五:保护贴裱膜去除----确认保护贴完全粘附,没有气泡产生之后,可以将保 护贴裱膜去除

小提醒:千万不能用清洁布擦有吸附能力的贴面

希望我的解答对您有所帮助,祝您生活愉快!


欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云

原文地址:https://www.xiayuyun.com/zonghe/325384.html

(0)
打赏 微信扫一扫微信扫一扫 支付宝扫一扫支付宝扫一扫
上一篇 2023-05-02
下一篇2023-05-02

发表评论

登录后才能评论

评论列表(0条)

    保存