膜厚仪也叫涂层测厚仪,厚度测试仪,涂层测厚仪是一种便携式双基(铁、铝)测量仪,它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室中的精密测量,也可用于工程现场广泛地应用在金属制造业、化工业等。FRU
在被测量的薄膜上垂直照射可视光,光的一部分在膜的表面反射,另一部分透进薄膜,然后在膜与底层之间的界面反射,薄膜表面反射的光和薄膜底部反射的光产生干涉现象。利用白光干涉测量法的原理,它用一个宽波段的光源来测得不同波长的反射数据,由于反射率n和k随薄膜的不同而变化,根据这一特性进行曲线拟合从而求得膜厚。不同类型材料的相应参数通过不同的模型来描述,从而保证了不同类型材料膜厚测量的准确性。大成精密设备薄膜测厚仪采用非放射性先进测量技术,是测量隔膜厚度的理想解决方案。
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