1。 拍扫描电镜照片或透射电镜照片,
用上边的比例尺来计算。然后通过Photoshop软件
进行二值化处理,通过分析会得到很好的结果。
2. 用实验仪器
分析粒度的仪器多的很,我们通常用激光粒度仪。
这个是可以测成分的,牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
1。 拍扫描电镜照片或透射电镜照片,
用上边的比例尺来计算。然后通过Photoshop软件
进行二值化处理,通过分析会得到很好的结果。
2. 用实验仪器
分析粒度的仪器多的很,我们通常用激光粒度仪。
这个是可以测成分的,牛津仪器纳米分析部推出了可以在SEM里测量薄膜成分和厚度软件系统ThinFilmID。 ThinFilmID是利用EDS测量薄膜结构的成分和厚度。 这项技术是唯一基于SEM和EDS薄膜分析系统。欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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