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可以通过X射线衍射(XRD)或扫描电子显微镜(SEM)来确定是否镀上了一层SiO2。XRD可以检测出物质的晶体结构,SEM可以检测出物质的表面形貌,如果表面有SiO2,那么XRD和SEM都会显示出来。想准确测定厚度还是很麻烦的,关键就在于制样,关于镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的,标准名称我不太记得了,改天给你发过来也行(如果需要),大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍,然后把材料固化在树脂中,再做截面,或者抛光,然后再测定,关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题,喷金或者喷碳就可以解决.
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