只能告诉软件名称与文章出处:The CSD Corrections program of Higgins(Higgins M.D.(2000)Measurement of crystal size distributions.Am. Mineral. 85:1105-1116)unidirection(站内联系TA)我也需要求他们的体积分数,以上说的是方法是不是仅仅只能用来测量一张照片的体积分数啊?但是如何求整个全部的体积分数呢?gywu0420(站内联系TA)谢谢啊!!!我也急需啊!!帮忙发一个过来:gywu0420@xmu.edu.cnjy-82910(站内联系TA)Originally posted by gentle8306 at 2008-12-18 08:57:
其实,SEM只能知道局部的大致粒径,并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成,可以输出完整的粒径分布曲线报告。另外,要对经过分散的颗粒(液相)进行SEM拍照,需要再做涂膜后干燥才能操作,实际上在干燥的过程中,再小的纳米颗粒都会重新团聚到一起了,基本上拍出来的照片看到的应该都是微米级的了。要得到纳米材料的真实情况照片,必须保持分散液状态来做电镜扫描。
第一、扫描电镜照片是灰度图像,分为二次电子像和背散射电子像,主要用于表面微观形貌观察或者表面元素分布观察。一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌,基本和自然光反映的形貌一致,特殊情况需要对比分析。
背散射电子像主要反映样品表面元素分布情况,越亮的区域,原子序数越高。
第二、看表面形貌,电子成像,亮的区域高,暗的区域低。非常薄的薄膜,背散射电子会造成假像。导电性差时,电子积聚也会造成假像。
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