文章是想从复盘总结的角度,客观的分析在这一年推广过程中,哪些操作和策略有效,哪些操作和策略中存在问题,这些行为产生了什么样的后果以及如何改正和不断的完善。让推广方案和自己不断的成长。
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月有效对话从15年9月到16年8月变化如下图
忽略2月左右春节和7月账户问题的影响,月有效对话量的变化基本可以看成是一个不断增长的过程。
其中主要增长月份有11月份和5月份。那么主要增长原因有哪些?
15年11月份增长分析:
1、15年10月末,深入业务,大量有效精准关键词的拓展投放。
2、2015年10月末,借助快站建设的移动推广网站上线推广,提升了移动端的用户体验,进而提高了有效对话量。(下边分设备有效对话量的对比,我们可以更加清晰的看到变化情况。9月到10月移动有效对话小幅增长,10月到11月移动有效对话增幅加大)
16年5月份增长分析:
1、账户结构整体调整与优化,涉及关键词的进一步拓展、优化,创意、着陆页、投放地域、投放时间、项目投放结构、设备投放结构等进一步的优化调整。
2、移动站点的进一步优化,新建手机站的推广使用。(同样,在下边分设备对话对比图表中,我们可以更为明显的看到移动端有效对话的显著增长)
3、5月份,客服人员的增加,推广时间延长,线上及时的接待和客服主动邀请对话次数有了很大提高。
看推广消费和有效对话变化情况,可以具体看出我们对话和消费的变化情况。
消费/有效对话=有效对话成本,获得下面月有效对话成本变化表,可以更加直观的看到,有效对话成本的不断减少。最为显著的月份是 11月、5月、6月、8月。
那么有效对话成本的减少主要出现在什么设备端呢?通过移动和电脑端的分类消费和有效的对话统计图表,下面我们进一步的分析。
上图可以看出,移动消费一直大于电脑端消费。移动端波动较大,电脑端消费相对稳定。结合下面分设备有效对话,除5、6月份外,几乎都是电脑端有效对话量较大。(5月移动消费几乎为电脑端的一倍)
消费/有效对话=有效对话成本,得出分设备有效对话成本。
从上图可以看出,电脑端有效对话成本较低,并且从15年10月到16年8月基本是有效对话成本的不断降低中,可以看出电脑端几乎已经接近对话成本降低的优化极限。移动端成本降低幅度较大,有效对话成本相对电脑端依然较高,后期还有很大的优化空间。
关于15年9月和10月份较高的有效对话成本,这是因为前期没有做推广网站的移动端,导致体验差,对话率极低。发现这个问题,11月份做了专门的移动推广网站,对话成本才得到了较好的控制。
有效对话客户终端分布如下面
结合上面2图以及前面的分析,可以分析出:
1、移动有效对话量虽然有了很大的提高,但电脑端有效对话依然占据约60%。
2、在手机端的设备使用占比中我们可以看出,我们的客户苹果用户居多。这也与我们网站cnzz统计中用户分析一致,即客户多为高富帅和果粉。辅以百度统计和百度指数,基本可以锁定我们的客户人群,这也为我们后续的RTB类精准广告投放做了铺垫。
对话访客访问页面数图表
从图中我们可以看出,客户在访问少于等于3个页面就开始咨询的比例非常大,这也从数据量化的角度进一步让我认识到着陆页以及相关页面的重要性。
上图是有效对话客户所在城市分布,因为市场大小和投放力度的不同,北京客户占据了绝大多数。
以上就是针对几个维度,对推广项目一年的简要分析,更是我本身对于这个项目一年投放经历的简单总结。当然以上的分析只是对于广告投放一年内几个关键点的分析,最终推广效果的提升是与工作中每一步的精细化推广优化和各个部门的配合与努力分不开的。
最后,根据以上分析,明确下后续投放策略和注意点:
1、重视电脑端的投放,进一步优化移动端的用户体验,提高移动端对话率。控制好投放设备消费结构。
2、着陆页等推广细节优化,包括关键词、创意、投放时间、投放设备价格比等,进一步精细化运作。
3、推广渠道的多样化,推广地域的多样化,进而提高优化对话量,和实现有效对话成本的降低。
4、投放项目比例结构的优化,改装项目与其他项目的投放占比优化。
(备注:数据均经处理,非实际数据,仅供研究分析用)
合格的一号搜索引擎营销。SEM是SearchEngineMarketing的缩写,中文意思是搜索引擎营销。SEM是一种新的网络营销形式。SEM所做的就是全面而有效的利用搜索引擎来进行网络营销和推广。SEM追求最高的性价比,以最小的投入,获最大的来自搜索引擎的访问量,并产生商业价值。聚焦离子束扫描电镜双束系统(FIB-SEM)是在SEM的基础上增加了聚焦离子束镜筒的双束系统,同时具备微纳加工和成像的功能,广泛应用于科学研究和半导体芯片研发等多个领域。本文记录一下FIB-SEM在材料研究中的应用。
以目前实验室配有的FIB-SEM的型号是蔡司的Crossbeam 540为例进行如下分析,离子束最高成像分辨率为3nm,电子束最高分辨率为0.9nm。该系统的主要部件及功能如下:
1.离子束: 溅射(切割、抛光、刻蚀);刻蚀最小线宽10nm,切片最薄3nm。
2.电子束 : 成像和实时观察
3.GIS(气体注入系统): 沉积和辅助刻蚀;五种气体:Pt、W、SiO2、Au、XeF2(增强刻蚀SiO2)
4.纳米机械手: 转移样品
5.EDS: 成分定量和分布
6.EBSD : 微区晶向及晶粒分布
7.Loadlock(样品预抽室): 快速进样,进样时间只需~1min
由上述FIB-SEM的一个部件或多个部件联合使用,可以实现在材料研究中的多种应用,具体应用实例如下:
图2a和b分别是梳子形状的CdS微米线的光学显微镜和扫描电镜照片,从光学显微镜照片可以看出在CdS微米线节点处内部含有其他物质,但无法确定是什么材料和内部形貌。利用FIB-SEM在节点处定点切割截面,然后对截面成像和做EDS mapping,如图2c、d、e和f所示,可以很直观的得到在CdS微米线的节点处内部含有Sn球。
FIB-SEM制备TEM样品的常规步骤如图3所示,主要有以下几步:
1)在样品感兴趣位置沉积pt保护层
2)在感兴趣区域的两侧挖大坑,得到只有约1微米厚的薄片
3)对薄片进行U-cut,将薄片底部和一侧完全切断
4)缓慢移下纳米机械手,轻轻接触薄片悬空的一端后,沉积pt将薄片和纳米机械手焊接牢固,然后切断薄片另一侧,缓慢升起纳米机械手即可提出薄片
5)移动样品台和纳米机械手,使薄片与铜网(放置TEM样品用)轻轻接触,然后沉积pt将薄片和铜网焊接牢固,将薄片和纳米机械手连接的一端切断,移开纳米机械手,转移完成
6)最后一步为减薄和清洗,先用大加速电压离子束将薄片减薄至150nm左右,再利用低电压离子束将其减薄至最终厚度(普通TEM样品<100nm,高分辨TEM样品50nm左右,球差TEM样品<50nm)
一种如图4a所示的MoS2场效应管,需要确定实际器件中MoS2的层数及栅极(Ag纳米线)和MoS2之间的距离。利用FIB-SEM可以准确的在MoS2场效应管的沟道位置,垂直于Ag纳米线方向,提出一个薄片,并对其进行减薄,制备成截面透射样。在TEM下即可得到MoS2的层数为14层(图4c), Ag纳米线和MoS2之间的距离为30nm(图4b)。
图5是一种锰酸锂材料的STEM像,该样品是由FIB-SEM制备,图中可以看到清晰的原子像。这表明FIB-SEM制备的该球差透射样非常薄并且有很少的损伤层。
FIB-SEM还可以进行微纳图形的加工。
图6a 是FIB-SEM在Au/SiO2上制备的光栅,光栅周期为150nm,光栅开口为75nm。
图6b 是利用FIB-SEM在Mo/石英上做的切仑科夫辐射源针尖,针尖曲率半径为17nm。
图6c 是在Au膜上加工的三维对称结构蜘蛛网。
图6d 是FIB-SEM在硅上刻蚀的贺新年图案,图中最小细节尺寸仅有25nm。
FIB-SEM可以对材料进行切片式的形貌和成分三维重构,揭示材料的内部三维结构。大概过程如图7a所示, FIB切掉一定厚度的样品,SEM拍一张照片,重复此过程,连续拍上百张照片,然后将上百张切片照片重构出三维形貌。图7b是一种多孔材料内部3×5×2um范围的三维重构结果,其实验数据是利用FIB-SEM采集,三维重构是利用Avizo软件得到,其分辩率可达纳米级,展示了内部孔隙的三维空间分布,并可以计算出孔隙的半径大小、体积及曲率等参数。
利用FIB-SEM配有的纳米机械手及配合使用离子束沉积Pt,可以实现微米材料的转移,即把某种材料从一个位置(衬底)转移到特定位置(衬底),并固定牢固。图8是把四针氧化锌微米线从硅片转移到两电极的沟道之间,从而制备成两个微米线间距只有1um的特殊器件。
最后,FIB-SEM还有很多其他的应用,例如三维原子探针样品制备,芯片线路修改等。总之FIB-SEM是材料研究中一个非常重要的手段。
不积珪步,无以至千里;不积细流,无以成江海。做好每一份工作,都需要坚持不懈的学习。
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