高分子做SEM对表面有什么要求

SEM 固体材料样品制备方便，只要样品尺寸适合，就可以直接放到仪器中去观察。样品直径和厚度一般从几毫米至几厘米，视样品的性质和电镜的样品室空间而定。对于绝缘体或导电性差的材料来说，则需要预先在分析表面上蒸镀一层厚度约10～20 nm的导电层。 否则，在电子束照射到该样品上时，会形成电子堆积，阻挡入射电子束进入和样品内电子射出样品表面。导电层一般是二次电子发射系数比较高的金、银、碳和铝等真空蒸镀层。 在某些情况下扫描电镜也可采用复型样品。SEM样品制备大致步骤： 1. 从大的样品上确定取样部位； 2. 根据需要，确定采用切割还是自由断裂得到表界面； 3. 清洗； 4. 包埋打磨、刻蚀、喷金处理

扫描电镜主要看形貌，你如果抛光了，消除形貌你要看什么？

当需要精确研究材料中化学成分分布时，必须尽可能消除形貌影响，进行抛光。如需要研究材料晶体类型分布和取向分布时，需要更精细抛光，机械抛光后，还要消除机械应力，采用电解抛光或者离子抛光。

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