如何测定电沉积中电流密度的影响

不知道你说的沉积效果是指哪方面。一般来说不同电流密度对沉积层的表面形貌会有影响，这个可以通过SEM来表征，如果是合金的话可能对合金成分也有影响。另外，不同电流密度下沉积速度也不一样，这个可以通过称重来测量，大概的就这么多，至于镀层与基体的结合力的好坏以及镀层的粗糙度和光亮度有时候可以很直观的看出来。

可以买那种电极头可以拧下来的玻碳电极，我也是做这个的，在玻碳上电化学还原沉积石墨烯，不过我还没有做过表征，可以试一试，或者把表面那一层蹭到铜网上，只要在TEM上可以看到单层得结构就可以了。你是用什么方法表征上面已经是沉积了石墨烯呢·？呵呵，同行同行，多多交流哈~

SEM：材料的表面形貌，形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息

TEM：材料的表面形貌，结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成

FTIR：主要用于测试高分子有机材料，确定不同高分子键的存在，确定材料的结构。如单键，双键等等

Raman：通过测定转动能及和振动能及，用来测定材料的结构。

CV：CV曲线可以测试得到很多信息，比如所需电沉积电压，电流，以及半导体行业可以得到直流偏压

EIS：EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位，阻抗信息，从而模拟出系统内在串联电阻，并联电阻和电容相关信息

BET：主要是测试材料比表面积的，可以得到材料的比表面积信息。

XRD：主要是测试材料的物性，晶型的。高级的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。

质谱：主要用于鉴定材料的化学成分，包括液相质谱，气象质谱

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