SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别

SEM、TEM、XRD、AES、STM、AFM的区别,第1张

xrd是x射线衍射,可以分析物相,SEM是扫描电镜,主要是观察显微组织,TEM是透射电镜,主要观察超限微结构。AES是指能谱,主要分析浓度分布。STM扫描隧道显微镜,也是观察超微结构的。AFM是原子力显微镜,主要是观察表面形貌用的-----回答的不是很全。

TEM :Transmission Electron Microscopy 透射电镜

EDS:能量弥散X射线谱(Energy-dispersive X-ray spectroscopy

SEM:scanning electron microscope扫描电子显微镜

FE-SEM:Field-Emission Scanning Electron Microscope场发射扫描电子显微镜

STM:scanning tunneling microscope扫描隧道显微镜

AFM:Atomic force microscopy原子力显微镜

XRD:X-ray diffractionX射线衍射

XPS:X-ray photoelectron spectroscopyX射线光电子能谱

FT-IR:Fourier transform infrared spectroscopy 傅立叶红外光谱仪

UV-VISQ:Ultraviolet–visible spectroscopy 紫外可见吸收光谱

SEM是扫描电镜,所加电压比较低,只是扫描用的,相当于高倍的显微镜TEM是透射电镜,所加电压高,可以打透样品,观察内部结构STEM是扫描透射,是扫描电镜里面的一个功能,可以说是山寨版的TEMSTM是扫描隧道显微镜,具体功能不太清楚了。


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