想准确测定
厚度还是很麻烦的,关键就在于制样,关于
镀层或者薄膜厚度的测定有相关标准的,标准名称我不太记得了,改天给你发过来也行(如果需要),大概意思是说在要测的镀层外面再镀一层镍,然后把材料固化在树脂中,再做截面,或者抛光,然后再测定,关键是不要破坏镀层.关于SiO2不导电的问题,喷金或者喷碳就可以解决.你说的厚度如果用SEM只能粗略的估计,利用背景的亮度差别,其实效果不一定很好的。
样品的制作只要你把样品粉末比较充分的分散,可以用去离子水,滴一滴就可以,样品制作的好坏关键就看分散性如何,不能太浓也不能太希粗糙组和厚度是完全两个概念,二者之间没有直接的联系和差别。
AFM测的粗糙度是材料的表面形貌特征。
而你SEM做出来的厚度,只是表征材料厚度的,和表面粗糙度没有联系
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