XPS_X射线光电子能谱分析XPS_能测哪些项目？

通过研究内层电子结合能及其氧化态的变化,X射线光电子能谱(XPS)可以鉴别元素种类和价态、测定元素的相对含量、了解中心离子与配位原子的相互作用和验证量子化学理论。XPS已成为研究配合物中配位位点、电荷分配和配合物结构的有力工具。

xps测量电子的能量分布，bet测量固体材料的比表面积、孔隙度、孔径分布、表面性质等参数。tg测量热重分析。

X射线光电子能谱(简称XPS),它是一种重要的表面分析技术。它不仅能为化学研究提供分子结构和原子价态方面的信息，还能为电子材料研究提供各种化合物的元素组成、化学状态、分子结构、等方面的信息。

BET是三位科学家(Brunauer、Emmett和Teller)的首字母缩写，三位科学家从经典统计理论推导出的多分子层吸附公式基础上，即著名的BET方程，成为了颗粒表面吸附科学的理论基础，并被广泛应用于颗粒表面吸附性能研究及相关检测仪器的数据处理中。

tg是用热分析天平测量物体在加热时重量变化和参比物之间重量的变化的差值。一般参比物的化学稳定性好，在加热时重量几乎不变化。通过重量的变化可以看出物体在什么温度下发生物理化学变化。

二次电子扫描象的分辨本领最高，约等于入射电子束直径，一般为6-10nm深，主要用于测试表面形貌；背散射电子为50-200 nm深，可以测表面形貌，也可以得到表面成分衬度；吸收电子和X射线为100-1000nm深，这些信号主要用来得到表面元素。 查看原帖>>

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