请教薄膜样品做XRD、SEM和原子力显微镜测试的先后顺序？

XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。选购原子力显微镜推荐Park NX-Hivac。

NX-Hivac的优点如下：

1、NX-Hivac 真空自动控制

Hivac 管理器通过一键单击在逻辑和视觉上控制最佳真空条件抽气和排气过程来实现高真空。各个过程通过颜色和图示变化得到直观监控，一键单击后您即可无需操心真空操作顺序。更快速、更简便的真空控制软件使原子力显微镜的使用更便捷更高效。

2、高级自动化特点

NX-Hivac具有大量功能从而能够最大化减少用户输入。换言之，您可以更快速地扫描，提高实验室产量。

3、配备电控载物台的StepScan 自动化扫描

StepScan允许用户能够对器件进行编程从实现而快速便捷地多区域成像。NX-Hivac让您只需五步即可完成样本扫描：扫描、提升悬臂、移动电动平台至用户定义坐标区域、进针及重复扫描。如此可极大地提高生产率，最大化减少用户输入。

想要了解更多原子力显微镜的相关信息，推荐咨询Park原子力显微镜。Park成立至今，致力于新产品和新技术的开发，为客户解决各种技术难题，提供最完善的解决方案。Park的原子力显微镜以高尖端产品质量和快捷优质的售后服务受到广大客户的认可；同时，为了给客户提供高效便捷的售后服务，在北京代表处专门建立有售后服务中心并配有备件仓库，助力客户更好的服务。

1. 利用透射电子显微镜（Transmission Electron Microscopy TEM）可以直电子显微镜观测图接获得一个样本的投影.在这种显微镜中电子穿过样本,因此样本必须非常薄.组成样本的原子的原子量、加速电子的电压和所希望获得的分辨率决定样本的厚度.样本的厚度可以从数纳米到数微米不等.原子量越高、电压越低,样本就必须越薄. 通过改变物镜的透镜系统人们可以直接放大物镜的焦点的像.由此人们可以获得电子衍射像.使用这个像可以分析样本的晶体结构. 2. 在能量过滤透过式电子显微镜（Energy Filtered Transmission Electron Microscopy,EFTEM）中人们测量电子通过样本时的速度改变.由此可以推测出样本的化学组成,比如化学元素在样本内的分布. 3. 扫描电子显微镜（Scanning electron microscope,SEM）中的电子束尽量聚焦在样本的一小块地方,然后一行一行地扫描样本.入射的电子导致样本表面散发出电子,显微镜观察的是这些每个点散射出来的电子.由于这样的显微镜中电子不必透射样本,因此其电子加速的电压不必非常高.场发射扫描电子显微镜是一种比较简单的电子显微镜,它观察样本上因强电场导致的场发射所散发出来的电子. 4. 假如观察的是透过样本的扫描电子的话,那么这种显微镜被称为扫描透射电子显微镜（Scanning Transmission Electron Microscopy,STEM）.

扫描电子显微镜(SEM) 是一种介于透射电子显微镜和光学显微镜之间的一种观察手段。其利用聚焦的很窄的高能电子束来扫描样品, 通过光束与物质间的相互作用, 来激发各种物理信息, 对这些信息收集、放大、再成像以达到对物质微观形貌表征的目的。扫描电子显微镜在岩土、石墨、陶瓷及纳米材料等的研究上有广泛应用。

---