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铁矿石中常见元素有铁、硅、铝、硫、磷、钙、镁、锰、钛、铜、铅、锌、钾、钠、砷等。对铁矿石进行分析时,一般只测定全铁、硅、硫、磷。有时为了了解矿石氧化的状态以及确定是否可以磁选,则需要测定亚铁。从冶炼的角度考虑,则要求测定可溶铁(盐酸可溶)和硅酸铁。在铁矿的组合分析中,还需要增加测定氧化铝、氧化钙、氧化镁、氧化锰及砷、钾和钠。在全分析中,为了考虑对铁矿的综合评价和综合利用,常常还要测定钒、钛、铬、镍、钴、灼烧减量、化合水、吸附水、稀有分散元素,甚至稀土元素检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜。扫描电镜SEM是介于透射电镜和光学显微镜之间的一种微观性貌观察手段,可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。测sem时的硅片的作用检查硅片表面残留的涂层或均匀薄膜,硅片是生产集成电路、分立器件、传感器等半导体产品的关键材料,是半导体产业链基础性的一环。
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