1,制样的时候将样品倾斜放置。
2,用倾斜样品台制样,有些SEM样品台配有30,45,60度倾斜的样品台。
3,高级的SEM,可以讲探头本身倾斜,从而获得大角度的SEM图
不滴在有碳膜的一面怎么行呢?铜网的孔径相对于纳米材料是巨大的。况且有没有碳膜很好区分的,说的俗一点,就是有碳膜的看起来像是用铅笔在铜网上涂过一样。反正我做了这么久的TEM,制样时都是滴在有碳膜的一侧。利用非共价修饰的方法,先在碳纳米管表面包裹上表面活性剂十六烷基三甲基溴化铵(CTAB)和聚丙烯酸钠(PAA),然后原位修饰上铜和银纳米粒子,制备出MWCNT/CTAB/PAA/M(M:Cu或AS)纳米复合材料,最后通过XRD、SEM和TEM等技术对其进行表征.结果表明,利用这种简单的层层白组装方法能够在碳管上均匀地修饰金属纳米粒子,并且这两种金属纳米粒子的尺寸都小于5
nm.
0号:肯定是50nm左右的nanospheres/nanoparticles.1-5的曲线中,375nm,620nm,850nm处都有吸收峰出现,你应该是在重复同一个实验或者在控制某一个条件,但是还有不可预见的情况发生(温度,加样时间,搅拌速度等,明显1号就是失败的样),Ag NPs有长长的趋势,你的样品应该是趋向于生成nanobars/nanorods.具体的情况我觉得看下SEM直观点。以上纯属个人观点,知识有限,有错的地方希望指出,大家沟通探讨
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