扫描电镜sem和透射电镜tem对样品有何要求

SEM的样品可以是大的块状，较小的话就镶样，也可以做粉末样。而TEM的样呢一般是直径3mm的圆片，而且中间有通过离子减薄或者电解双喷等弄出的小孔，也就是说有薄区，如果是粉末样的话需要铜网或者支持膜支撑

光学显微镜的放大倍数较低，一般采用SEM进行观察

对于粉状材料，可采用导电胶粘附+喷金工艺以预防经典

至于颗粒重叠就简单了，你少取点样不就行了，呵呵，祝你成功！

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