TEM和SEM有什么区别？

透射电镜（TEM）的放大倍数要比扫描电镜（SEM）的高,当然两则的成像原理也是不同的，如果需要观察纳米颗粒在聚合物中的分散情况，你就必须要用TEM来观察了，SEM通常看材料的缺口断面，当然还有许多其他应用。SEM是电子束激发出表面次级电子,而TEM是穿透试样,而电子束穿透能力很弱,所以TEM样品要求很薄,只有几十nm, TEM一般放大能达几百w倍,而SEM只有几万倍.扫描电镜通常用在一些断口观察分析,外加一个能谱仪,可以进行能谱扫描.其放大倍数相对较低,操作方便,样品制作简单,对于高聚物,须进行喷金处理 TEM则可以观看样品的内部结构,粒子的分散等.其放大倍数高于SEM,但也不是绝对,现在有些扫描电镜的放大倍数也可以很高.其操作较复杂,样品制作也较为烦琐

解理断裂属于脆断

应该是在大应力作用下发生的

寻找断口的起源

一般是在宏观下

或者是低倍微观下观察

根据断口撕裂棱的走向

或者是解理河流花样的走向来判断源区的方向

脆断的宏观断口一般都会有明显的撕裂棱

根据这些应该能找到断口的起源部位

考虑一下该试样的受力情况

结合这个做出判断

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