请问在SEM分析的样品需要抛光得很光滑么? 请问做SEM之前,所需要处理的样品需要很光滑吗?

请问在SEM分析的样品需要抛光得很光滑么? 请问做SEM之前,所需要处理的样品需要很光滑吗?,第1张

SEM抛光我想应该是要清洁一下表面,避免表面含有一些脏东西之类的,如果是要看组织,不仅最后不是抛光,而且做SEM之前还需要腐蚀,SEM的二次电子成像原理就是要求表面凹凸不平,如果抛光了的话就没办法看二次电子像了,只能用背散射看了

先用2000目或更小的砂纸将表面打磨平整,不能有明显的缺陷。如果你对表面要求很高,再做下表面抛光就可以了。不知道做SEM想得到什么结果,是看粒子的烧结情况,还是看里面有没有你想要的特定结构。我们做一般用上面大小的砂纸将表面打磨就行了。

XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。XRD通常薄膜厚度不够的话,需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次,同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。选购原子显微镜推荐Park NX-Hivac。

NX-Hivac的优点如下:

1、NX-Hivac 真空自动控制

Hivac 管理器通过一键单击在逻辑和视觉上控制最佳真空条件抽气和排气过程来实现高真空。各个过程通过颜色和图示变化得到直观监控,一键单击后您即可无需操心真空操作顺序。更快速、更简便的真空控制软件使原子力显微镜的使用更便捷更高效。

2、高级自动化特点

NX-Hivac具有大量功能从而能够最大化减少用户输入。换言之,您可以更快速地扫描,提高实验室产量。

3、配备电控载物台的StepScan 自动化扫描

StepScan允许用户能够对器件进行编程从实现而快速便捷地多区域成像。NX-Hivac让您只需五步即可完成样本扫描:扫描、提升悬臂、移动电动平台至用户定义坐标区域、进针及重复扫描。如此可极大地提高生产率,最大化减少用户输入。

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