SEM照片下粒子灰度的深浅是由什么决定的？

由原子大小决定吧，SEM用的是隧穿效应，我做SEM扫描金属表面实验的时候读出来的数据都是电压，钨针尖上还要自己加偏压。金属混合物的微观结构是面心立方点阵结构（代表有铝、金、银、铜）和六方最密堆积结构（代表有镁、铍、锌、镉等）的混合，都是填隙六方结构，所以应该是金属原子浸没在电子海洋中的密堆积结构，由于充分混合后的对称性，原子间距只和整个体系的结合能有关，和是什么原子无关，所以原子位置早就定下来了。然后SEM扫到的距离只和表面原子半径大小的有关（前提光滑表面）。

1．右手握住镜臂，左手托住镜座。

2．把显微镜放在实验台上，略偏左（显微镜放在距实验台边缘7厘米左右

处）。安装好目镜和物镜。

二、对光

3．转动转换器，使低倍物镜对准通光孔(物镜的前端与载物台要保持2厘

米的距离)。

4．把一个较大的光圈对准通光孔。左眼注视目镜内(右眼睁开，便于以后

同时画图)。转动反光镜，使光线通过通光孔反射到镜筒内。通过目镜，可以

看到白亮的视野。

三、观察

5．把所要观察的玻片标本（也可以用印有“6”字的薄纸片制成）放在

载物台上，用压片夹压住，标本要正对通光孔的中心。

6．转动粗准焦螺旋，使镜筒缓缓下降，直到物镜接近玻片标本为止（眼

睛看着物镜，以免物镜碰到玻片标本）。

7．左眼向目镜内看，同时反方向转动粗准焦螺旋，使镜筒缓缓上升，直

到看清物像为止。再略微转动细准焦螺旋，使看到的物像更加清晰。

从书上查了一些内容，书的年代比较久远，可能买不到...有兴趣的话，尝试着去图书馆借一下吧。

SEM工作时，电子枪发射的入射电子束打在试样表面上，向内部穿透一定的深度，由于弹性和非弹性散射形成一个呈梨状的电子作用体积。电子与试样作用产生的物理信息，均由体积内产生。

二次电子是入射电子在试样内部穿透和散射过程中，将原子的电子轰击出原子系统而射出试样表面的电子，其中大部分属于价子激发，所以能量很小，一般小于50eV。因此二次电子探测体积较小。二次电子发射区的直径仅比束斑直径稍大一些，因而可获得较高的分辨率。

二次电子像的衬度取决于试样上某一点发射出来的二次电子数量。电子发射区越接近表面，发射出的二次电子就越多，这与入射电子束与试样表面法线的夹角有关。试样的棱边、尖峰等处产生的二次电子较多，相应的二次电子像较亮；而平台、凹坑处射出的二次电子较少，相应的二次电子像较暗。根据二次电子像的明暗衬度，即可知道试样表面凹凸不平的状况，二次电子像是试样表面的形貌放大像。

SEM内在试样的斜上方放置有探测器来接受这些电子。接受二次电子的装置简称为检测器，它是由聚焦极、加速极、闪烁体、光导管和光电倍增管组成。在闪烁体前面装一筒装电极，称为聚焦极，又称收集极。在其前端加一栅网，在聚焦极上加250-300V的正电压。二次电子被此电压吸引，然后又被带有10kV正电压的加速极加速，穿过网眼打在加速极的闪烁体上，产生光信号，经光导管输送到光电倍增管，光信号转变为电子信号。最后输送到显示系统，显示出二次电子像。

---