另外,要对经过分散的颗粒(液相)进行SEM拍照,需要再做涂膜后干燥才能操作,实际上在干燥的过程中,再小的纳米颗粒都会重新团聚到一起了,基本上拍出来的照片看到的应该都是微米级的了。要得到纳米材料的真实情况照片,必须保持分散液状态来做电镜扫描。
一楼回答的是针对纳米棒吧?1、纳米颗粒是指在100纳米以下的,都叫纳米颗粒。
2、测试粒径分布的现在高级货都用马而文激光粒度测试仪(也有低端国产的粒度仪),可以提供粒度报告,尺寸分布报告,体积分布报告,强度分布报告等多种数据。
特点是可以测试1纳米~1000纳米范围内的样品数据可靠性高,要求纳米颗粒的粒径分布较为集中,你不要有很多1纳米级的,又有很多1000纳米的,这样出的数据可靠性相对低。会提供一个数据可靠性参数PDI。便宜,因为我们实验室就有可以帮你测。别的地方也有,行价大约是在50~100元之间吧。
粒径分为晶体粒径,和颗粒粒径,如果楼主确定是要颗粒粒径的话,还可以通过SEM,或FE-SEM来看。然后通过相关数据统计。SEM便宜也就100元左右,FE-SEM可能要300~500,这样看你的样品导电不导了,涉及到喷金、喷碳的问题。一楼说的紫外,我觉得的可取性不是很高,因为只是定性分析,不能给出定量数据,而且要受到浓度等多种因素影响,UIV主要用于浓度和紫外特征峰、漫反射等方面的表征。而且一般TEM随随便便就可以达到纳米级,没有那么夸张。一般的也就200元,高分辨的会比较贵也就500够了。但有个问题是TEM看到不一定是颗粒粒径,有可能是晶体粒径,你要具备分析的能力,也可以用这个表征。
纳米材料是指三维空间尺寸中至少有一维处于纳米数量级(1~100 nm),或由纳米结构单元组成的具有特殊性质的材料,当材料的粒度大小达到纳米尺度时,将具有传统微米级尺度材料所不具备优势,所以其中纳米材料的粒度则是其最重要的表征参数之一。通过仪器表征纳米颗粒大小的方式其实还是挺多的。比如电子显微镜法,电子显微镜法是对纳米材料尺寸、形貌、表面结构和微区化学成分研究最常用的方法, 一般包括扫描电子显微镜法(SEM) 和透射电子显微镜法(TEM)。激光粒度分析法,动态光散射法,X射线衍射线宽法(XRD),X射线小角散射法(SAXS),扫描探针显微镜法(SPM)。欢迎分享,转载请注明来源:夏雨云
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