电子探针的薄片厚度要求

探针片，国内的标准约60-80um，当然是用于电子探针，电子探针分析时通过镀金或者镀炭达到导电的目的，然后分析；

光薄片，其实在国内指的是用于矿相鉴定的光片，即反光用的，有两种，一种是很厚很厚的，可以压在橡皮泥上放到反光显微镜下去看的；另一种厚度不定，因为主要是用于反光，不破损即可；

岩石薄片，就是用于显微镜鉴定的片子，通过30um，国内的情况是加盖薄片，在这里盖片有好处也有不好处，好处是有盖片，显微镜鉴定的时候很好，很清楚，不好就是盖上去了取不下来，至少不容易取下来，如果你要做电子探针或者SEM的话就没办法了，不盖吧，显微镜鉴定的时候可能会有点干扰；

什么镜？

我觉得不需要晶体学的基础。

如果是光学显微镜，那么可能涉及到取样，腐蚀 染色等等

如果是扫描电镜，那么要考虑到取样，喷碳或喷金处理，这些都只能看形貌，SEM配合EDX可以做元素分析，但是结构分析不出来，需要用光谱，XRD，XPS等等了

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