用扫描电子显微镜进行形貌分析有哪些特点

放大倍率大。。高达几十万倍。。

分辨率高。。几个nm

景深大

成本高

样品可能需要前处理

操作较复杂

以下抄来的：

和光学显微镜及透射电镜相比，扫描电镜SEM（Scanning Electron Microscope）具有以下特点：

(一) 能够直接观察样品表面的结构，样品的尺寸可大至120mm×80mm×50mm。

(二) 样品制备过程简单，不用切成薄片。

(三) 样品可以在样品室中作三度空间的平移和旋转，因此，可以从各种角度对样品进行观察。 　

(四) 景深大，图象富有立体感。扫描电镜的景深较光学显微镜大几百倍，比透射电镜大几十倍。

(五) 图象的放大范围广，分辨率也比较高。可放大十几倍到几十万倍，它基本上包括了从放大镜、光学显微镜直到透射电镜的放大范围。分辨率介于光学显微镜与透射电镜之间，可达3nm。

(六) 电子束对样品的损伤与污染程度较小。

(七) 在观察形貌的同时，还可利用从样品发出的其他信号作微区成分分析。

1.金相是需要经过磨平，腐蚀来制备的。腐蚀的作用是将晶界上的物质腐蚀掉，这样境界处就出现凹下去的，和其他晶体表面（平的）就不一样了。

2.电镜观察物体的表面形貌，也就是表面是什么样的。把制作好的金相放入电镜下就可以看到放大的样品表面，同时通过腐蚀后的样品就可以明显看到晶体的样子。

3.图片如下，可以明显看到晶体的样子和晶界的样子。

二次电子信号来自于样品表面层5～l0nm,电子与样品原子的核外电子作用,一部分能量转移到原子,导致原子中的一个电子被逐出而产生二次电子.二次电子信号强弱与样品表面粗糙度有关,可利用二次电子成像的模式-SEI模式观察样品表面形貌.电子与样品原子的原子核发生弹性碰撞,电子方向发生改变,但无能量损失,这样的电子叫背散射电子.背散射电子信号强弱与样品原子的原子量有关,可利用背散射电子成像的模式-BSE模式观察样品表面元素分布情况.

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