粉体SEM表征，是用铜片还是导电橡胶？

可以现在乙醇中超声分散，然后用硅片捞取样品，用导电胶粘在样品台上，这样看纤维我觉得比较好另外，如果实在要看固体粉末，不要直接粘在导电胶上，这样不是很好，我觉得还是用铜片好一点，不过尽量不要看固体，高度不均的情况下，看到的图像也是相称度很差

导电胶是一种能够起导电作用的黏合剂,在黏合剂当中加入能够起导电作用的填充料.导电胶的成分是黏合剂,而且一般的黏合剂都可以作成导电胶.根据黏结效果的要求选择不同的黏合剂,如环氧、氯丁胶等

导电胶、导电银浆、导电银胶的选购指南

由于导电胶在实际应用中也有着千差万别的要求,因此正确选择导电银胶就成为在电子和光电器件生产工艺中很关键的环节.

下面是出国际众多导电银胶专家选购经验总结的.

固化条件（Cure Conditian）（常温、加温、紫外光、红外光、微波）

固化速度和时间（Cure Shedule）

外观（Appearance）（透明、半透明、颜色）

填充料（Filler）

所粘接的材料（Adherent Material）

粘度（Viscosity）

玻璃化温度（Tg）

硬度（Hardness）

粘接强度（Lap Shear, Die shear）

弹性模量（Modulus）

薄膜样品做XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。在这三个测试中原子力显微镜更具有优势。想了解更详细的信息，推荐咨询Park原子力显微镜。Park原子力显微镜的Park NX-Hivac。在高真空条件下执行扫描扩散电阻显微镜测量可减少所需的针尖-样本相互作用力，从而大幅度降低对样本和针尖的损伤。如此可延长各针尖的使用寿命，使扫描更加低成本和便捷，并通过提高空间分辨率和信噪比得到更为精确的结果。因此，利用NX-Hivac进行的高真空扫描扩散电阻显微术测量可谓是故障分析工程师增加其吞吐量、减少成本和提高准确性的明智选择。

XRD、 SEM、AFD三者的区别：

1、 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。

2、 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

3、 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。

XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。

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