怎样从SAED图谱区分单晶和多晶

看品 绝数看 般情况普通SEM图能用证明材料单晶 确定材料晶材料通SEM观察晶界（能需要进行些预处理比腐蚀） 于陶瓷材料肯定晶直接掰能用SEM看晶界晶粒于金属材料通腐蚀观察晶界于薄膜材料腐蚀观察晶界 于金属品种叫：电背散射衍射种需要品抛光非平整观察品表面结晶向种辨率较低种般用析金属金相组织几乎用做单晶定性析 坚定单晶X射线衍射便便宜SEM判断否单晶说服力差些品SEM图看否晶SEM般作坚定单晶依据通其证明材料单晶用SEM图作佐

还是要从本质上找特征把

一般的奥林巴斯就好了 奥林巴斯啊......好高级啊，呵呵。

用一般的连续变倍体视显微镜就可以观察，最大倍数一般在100左右就可以。单晶一般有规则的外形，表面比较光滑。要测试的话就要求没有裂纹，大小不能太小（大的话可以切一块下来测）。

已经得到的单晶最好在溶液中保存，但也不是绝对的。有的晶体在母液中会继续生长，最后反而没法测了。如果晶体稳定的话也可以从溶液中过滤出来后干燥保存。东方红(站内联系TA)用显微镜观察，如果是规则的透明多面体结构，就可以大致判断是单晶了。但是，必须用偏光显微镜才能确证。

在空气中稳定的晶体没问题，不稳定者可以直接封存在母液中。guangbc(站内联系TA)看晶体是否可以测试用体视显微镜即可，对于晶体的保存视合成方法而定：水热合成的晶体一般可保存在母液中，这样不会继续结晶生长；常规培养的，如果晶体生长到可以测试的要求时，最好脱离母液保存，如果允许的话，裹上一层胶更好！

1、放大率：

与普通光学显微镜不同，在SEM中，是通过控制扫描区域的大小来控制放大率的。如果需要更高的放大率，只需要扫描更小的一块面积就可以了。放大率由屏幕/照片面积除以扫描面积得到。

所以，SEM中，透镜与放大率无关。

2、场深：

在SEM中，位于焦平面上下的一小层区域内的样品点都可以得到良好的会焦而成象。这一小层的厚度称为场深，通常为几纳米厚，所以，SEM可以用于纳米级样品的三维成像。

3、作用体积：

电子束不仅仅与样品表层原子发生作用，它实际上与一定厚度范围内的样品原子发生作用，所以存在一个作用“体积”。

4、工作距离：

工作距离指从物镜到样品最高点的垂直距离。

如果增加工作距离，可以在其他条件不变的情况下获得更大的场深。如果减少工作距离，则可以在其他条件不变的情况下获得更高的分辨率。通常使用的工作距离在5毫米到10毫米之间。

5、成象：

次级电子和背散射电子可以用于成象，但后者不如前者，所以通常使用次级电子。

6、表面分析：

欧革电子、特征X射线、背散射电子的产生过程均与样品原子性质有关，所以可以用于成分分析。但由于电子束只能穿透样品表面很浅的一层（参见作用体积），所以只能用于表面分析。

表面分析以特征X射线分析最常用，所用到的探测器有两种：能谱分析仪与波谱分析仪。前者速度快但精度不高，后者非常精确，可以检测到“痕迹元素”的存在但耗时太长。

观察方法：

如果图像是规则的（具螺旋对称的活体高分子物质或结晶），则将电镜像放在光衍射计上可容易地观察图像的平行周期性。

尤其用光过滤法，即只留衍射像上有周期性的衍射斑，将其他部分遮蔽使重新衍射，则会得到背景干扰少的鲜明图像。

扩展资料：

SEM扫描电镜图的分析方法：

从干扰严重的电镜照片中找出真实图像的方法。在电镜照片中，有时因为背景干扰严重，只用肉眼观察不能判断出目的物的图像。

图像与其衍射像之间存在着数学的傅立叶变换关系，所以将电镜像用光度计扫描，使各点的浓淡数值化，将之进行傅立叶变换，便可求出衍射像〔衍射斑的强度（振幅的2乘）和其相位〕。

将其相位与从电子衍射或X射线衍射强度所得的振幅组合起来进行傅立叶变换，则会得到更鲜明的图像。此法对属于活体膜之一的紫膜等一些由二维结晶所成的材料特别适用。

扫描电镜从原理上讲就是利用聚焦得非常细的高能电子束在试样上扫描，激发出各种物理信息。通过对这些信息的接受、放大和显示成像，获得测试试样表面形貌的观察。

参考资料：百度百科-扫描电子显微镜

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