sem测试不同样品测试结果有啥不同

sem测试不同样品测试结果不同有：

1、结构差异。主要体现在不同样品在电子束光路中的位置不同；

2、焦深不同。电子束在穿过样品时,会和样品中的原子发生散射,样品上某一点同时穿过的电子方向不同。

luomuwuhen(站内联系TA)用SEM分析样品，粒径大小可以直接看出来0523gy(站内联系TA)这个问题我也想问，继续关注。。。zhoufudong(站内联系TA)最近做了一个SEM，也不会分析，求助各位大侠绿茶咖啡(站内联系TA)颗粒形状粒径大小，可以结合XRD分析负载的话，物质的分布附着情况jason168(站内联系TA)呵呵，先补一下基本知识吧，当然了，是对你要做的东西的基本知识。你连做SEM想看什么都不知道，说明你对你的样品也不是很了解，这样子写的文章肯定也不咋的了。liuruiphd(站内联系TA)可以结合能谱分析相关元素的含量njucaijun(站内联系TA)最直观的是形貌和大小，还有粒子间或所关心的体系间的关系，比如分散状况，结合状况等。结合能谱可以知道元素信息，做面扫可以知道元素的分布图，结合扫描照片能得到一些有意思的结论。

SEM是

扫描电子显微镜

，主要用于电子显微成像，接配电子显微分析附件，可做相应的特征分析，

最常用的是聚焦

电子束

和样品相互作用区发射出的元素特征

X-射线

，可用EDS或者WDS进行探测分析，获得微区（作用区）元素成分信息，而EDS或者WDS这类电子显微分析附件却来源于EPMA。

SEM就是一个电子显微分析平台，分析附件可根据用户需要来选配，有需要这个的，有需要那个的，因此

扫描电镜

结构种类具有多样性，从tiny、small、little

style，to

middle、large、huge

style.

就EDS或WDS分析技术来讲，在SEM上使用，基本上使用无

标样

分析，获得很粗糙的

半定量

结果。

而EPMA在SEM商品化10年前，就已经开始实用了，其主要目的，就是要精确获得微米尺度晶粒或颗粒的成分信息.

主要分析手段是WDS，一般配置4个WDS，基于此，EPMA结构比较单一，各品牌型号结构差距不大。EMPA追求电子显微分析结果精准，因此

电子光学

设计不追求高分辨，电子显微分析对汇聚束的要求相匹配即可。

早期EPMA成像手段主要采用同轴

光学显微镜

，然后移动样品台或移动汇聚电子束，找到感兴趣区，当前依然保留同轴光镜，用来校准WD。EMPA对电子光学系统工作条件的稳定性要求超过SEM很多很多，控制系统增加了一些

负反馈

机制，确保分析条件和标样分析保持很小的误差。

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