你好···请问纳米级材料粒径检测时采用SEM的具体步骤能详细介绍一下么··谢谢··做实验有点急用··

其实，SEM只能知道局部的大致粒径，并不能得到粒径分布的完整信息。做粒径分布测试应该通过激光粒度仪来完成，可以输出完整的粒径分布曲线报告。

另外，要对经过分散的颗粒（液相）进行SEM拍照，需要再做涂膜后干燥才能操作，实际上在干燥的过程中，再小的纳米颗粒都会重新团聚到一起了，基本上拍出来的照片看到的应该都是微米级的了。要得到纳米材料的真实情况照片，必须保持分散液状态来做电镜扫描。

针对怎么用SEM看薄膜截断面来回答：

献峰科技指出：在Si片上镀一层非晶碳膜（厚度为几十个nm，导电性能较差），用金刚石刀直接切割出试样，然后进行SEM观察，希望得到薄膜的厚度。

第一次去做时表面没有喷金，看到的断面效果也很差，很难清楚的看到薄膜与基体的分界面。

希 望 采 纳 不 足 可 追 问

1、首先打开PS，左侧工具栏中选择裁剪工具。

2、选择好裁剪工具后，在最上方的选项栏中找到裁剪设置项，选择好需要裁切的照片尺寸，或是手动输入尺寸，分辨率一般选择300就可以。

3、设置好比例，在进行裁剪操作的时候，Photoshop就会根据预设的比例进行裁剪，按着Alt锁定图像原中心位置不改变，否则PS就会从顶端开始裁剪的。

4、 裁剪好以后，在按键盘Enter键，这就是我们设定好的裁剪效果，如果效果不满意，可以再次使用裁剪工具，重新裁剪图像。在工具栏中重新选择裁剪工具，调出裁剪边框以及控制点，按前面步骤操作即可

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