【求助】激光粒径仪所测粒径与SEM的粒径相差甚远是什么原因

nanopowders(站内联系TA)激光粒度是一个统计数据，可能会是单颗粒和团聚体的表现，而电镜粒度一般都是统计单个颗粒，除非你的颗粒在溶液中的分散性能很好，形成类似于单分散的浆液，这样二者才会很接近，不然测试的激光粒度都要大于电镜粒度，工业上控制在2倍范围都是可以的pigfly(站内联系TA)激光粒径仪测得的是水合半径,如果是利用静电排斥作用稳定的体系,水合半与pH有很大关系,sugucong(站内联系TA)激光粒径仪测量的是水溶液，而SEM是颗粒的干粉，一般情况下激光粒径仪所得到的结果比SEM的要大至少几个纳米，还有，激光粒径仪受到各别非常大的颗粒影响很大，而且对温度，样品的浓度、单分散性都有很大的影响，但你可以通过多次测量得出一个准确的结果。你可以用一个标准物质与它们进行校正。动态光散射的话是分开来进行测量，然后通过比例进行校正。TEM可以通过样品之间不同比例的混合，然后通过统计，最后进行校正。这样你就可以得到你们颗粒的准确粒径。

1.显微镜法

1）用扫描电子显微镜（SEM）扫描隧道显微镜（STM）透射电子显微镜（TEM）来表征生长域和表面形态。

2）用原子力显微镜（AFM）来表征表面形态、厚度、层的均匀性、畴生长。

2.光谱法

1）拉曼光谱——鉴定石墨烯片并获得层数信息

2）红外光谱——评估官能团的存在

3）紫外-可见光谱——帮助评估氧化石墨烯和还原石墨烯的区别

4）X射线衍射（X射线粉末衍射）——用于分析结晶相

5）光电子能谱（X射线光电子能谱）——分析表面化学构成和键合。

6）核磁共振——获取结构信息，如sp 2和sp 3碳信息。

7）动态光散射（动态光散射和光子关联光谱学）——用于尺寸表征或测量流体尺寸和亚微米颗粒。

8）DPI（双偏振干涉测量技术）——帮助表征氧化石墨表面与其他分子的表面相互作用。

3.力学性能测试

1）杨氏模量。

2）泊松比。

3）膨胀试验。

4）表面张力（石墨烯膜的松弛和自紧）

5）石墨烯膜的气体透过率。

4.热性能和热效应分析

1）热导性。

2）热重分析（TGA）和热稳定性。

现在让我们来看一下各种分析工具以及它们是如何来鉴别和表征石墨烯的。

显微镜法

石墨烯的SEM,STM,TEM表征

扫描电子显微镜，用一束高能量的聚焦电子束代替光来形成图像，可与能谱连用。可以获得形貌信息（物体的表面特征）、形态信息（构成物体的粒子的形状和大小）、组成信息（组成物体的元素和化合物以及他们的量）和晶体信息（原子在物体中的排列

测什么百度一下吧，应该都有详细的测试原理及项目。

区别应该是 SEM和TEM和AFM，越来越高级，放大倍数越来越高。XRD和红外光谱这两个是没什么关系的，xrd是测试晶体结构的，可以测试晶体结构的，对于可以看出你的材料是什么。红外是靠红外吸收峰的位置与强度反映了分子结构上的特点，可以用来鉴别未知液态水的红外光谱物的结构组成或确定其化学基团；而吸收谱带的吸收强度与化学基团的含量有关，可用于进行定量分析和纯度鉴定。l红外主要用于有机化合物的结构鉴定在有机化学、生物化学、药物学、环境科学等许多领域。

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