要用扫描电镜观察不导电样品，可以采取哪些措施避免放电对图像清晰的影响

扫描电镜对不导电样品的处理是比较常见的问题，可以采用的方法有几种。

尽量将块状样品做小，甚至做成粉末，使样品与样品座的接触良好。

对观察样品进行镀金或喷碳处理，使样品表面形成导电膜，利于电荷流走。

最好再用导电胶将喷碳或喷金后的样品表面与样品座（台）连接，以减少电子积累。

对于无法很好解决放电效应对图像影响的，可以加快扫描速度，或用集成模式采集图像，以抑制电荷积累。

用扫描电镜的背散射探头采集图像，几乎不会有放电效应，因为背散射信号强度比较高，不会为放电电荷干扰。

高分子材料测sem可以不用脆断

XRD、SEM和AFM测试没有固定的先后顺序。

1 XRD（X-ray diffraction）是用来获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构。

2 SEM（扫描电子显微镜）是一种微观性貌观察手段，可直接利用样品表面材料的物质性能进行微观成像。

3 AFM （原子力显微镜）是一种表面观测仪器，与扫描隧道显微镜相比，能观测非导电样品。

XRD通常薄膜厚度不够的话，需要剥离研磨制成粉末样品。SEM和AFM根据样品的特性选择一个测试就可以。测试时通常是选择同批次，同条件的几个样品分别去测形貌和组分。按照预约测试时间来安排测试顺序。

sem测试不同样品测试结果不同有：

1、结构差异。主要体现在不同样品在电子束光路中的位置不同；

2、焦深不同。电子束在穿过样品时,会和样品中的原子发生散射,样品上某一点同时穿过的电子方向不同。

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