SEM样品如何制备

扫描电镜主要看形貌，你如果抛光了，消除形貌你要看什么？

当需要精确研究材料中化学成分分布时，必须尽可能消除形貌影响，进行抛光。如需要研究材料晶体类型分布和取向分布时，需要更精细抛光，机械抛光后，还要消除机械应力，采用电解抛光或者离子抛光。

SEM，全称为扫描电子显微镜，又称扫描电镜，英文名Scanning Electronic Microscopy. TEM，全称为透射电子显微镜，又称透射电镜，英文名Transmission Electron Microscope.

区别：

SEM的样品中被激发出来的二次电子和背散射电子被收集而成像. TEM可以表征样品的质厚衬度，也可以表征样品的内部晶格结构。TEM的分辨率比SEM要高一些。

SEM样品要求不算严苛，而TEM样品观察的部分必须减薄到100nm厚度以下，一般做成直径3mm的片，然后去做离子减薄，或双喷（或者有厚度为20~40μm或者更少的薄区要求）。

TEM可以标定晶格常数，从而确定物相结构；SEM主要可以标定某一处的元素含量，但无法准确测定结构。

先用双面胶，在铝箔上用双面胶沾上许多碎玻璃片，记住编号；然后用去离子水稀释到固含量在0.1%以下（具体未知），然后超声分散（时间未知），然后用滴管将分散液滴到碎玻璃片上。将铝箔放入真空干燥箱中50℃干燥。用一金属样品台（表面是很光、平的），将乳液稀释到肉眼可看到又一点浑浊，用玻璃棒沾些，点到样品台上再喷金即可

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