一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌,基本和自然光反映的形貌一致,特殊情况需要对比分析。
背散射电子像主要反映样品表面元素分布情况,越亮的区域,原子序数越高。
第二、看表面形貌,电子成像,亮的区域高,暗的区域低。非常薄的薄膜,背散射电子会造成假像。导电性差时,电子积聚也会造成假像。
有两种方法可以知道:1。 拍扫描电镜照片或透射电镜照片,
用上边的比例尺来计算。然后通过Photoshop软件
进行二值化处理,通过分析会得到很好的结果。
2. 用实验仪器
分析粒度的仪器多的很,我们通常用激光粒度仪。
一般应该是对比Ag/TiO2和TiO2之间的SEM,具体分析的内容应该包括:
Ag粒子在TiO2表面的分布是否均匀;
Ag/TiO2和TiO2单一样品(如球或是花)的尺寸变化(均匀,变大,变小)
Ag/TiO2和TiO2整体样品的均匀性和分散性;
Ag纳米粒子的颗粒大小。
涵盖了这几方面就足够了
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