扫描电镜(SEM)中表面形貌衬度和原子序数衬度各有什么特点

二次电子信号来自于样品表面层5～l0nm,电子与样品原子的核外电子作用，一部分能量转移到原子，导致原子中的一个电子被逐出而产生二次电子。二次电子信号强弱与样品表面粗糙度有关，可利用二次电子成像的模式-SEI模式观察样品表面形貌。

电子与样品原子的原子核发生弹性碰撞，电子方向发生改变，但无能量损失，这样的电子叫背散射电子。背散射电子信号强弱与样品原子的原子量有关，可利用背散射电子成像的模式-BSE模式观察样品表面元素分布情况。

扫描电镜(scanning

electron

microscope，SEM)，可观察金相组织，断口形貌等；若SEM配备有能谱仪EDS（Energy

Dispersive

Spectrometer），也是可以做成分分析的，不过一般做定性，确定夹杂物等用的。

电子探针（Electron

probe

micro-analyzer，EPMA），可对试样进行微小区域成分分析，除H、He、Li、Be等几个较轻元素外，都可进行定性和定量分析。

X射线（x-ray

phase

analysis），钢铁材料一般用来做相分析用的，即确定组织中用哪些相组成，一般为铁素体，奥氏体相等。

看你应该是从事金属材料专业的吧，希望对你有用，还有问题可以问我，我是做钢铁产品研发的

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