一般二次电子像主要反映样品表面微观形貌,基本和自然光反映的形貌一致,特殊情况需要对比分析。
背散射电子像主要反映样品表面元素分布情况,越亮的区域,原子序数越高。
第二、看表面形貌,电子成像,亮的区域高,暗的区域低。非常薄的薄膜,背散射电子会造成假像。导电性差时,电子积聚也会造成假像。
方法有二:寻找扫描文件的方法一:
1.打印机扫描的文件一般都是有日期的,可以按照日期进行查找。
2.打开【我的电脑】在搜索栏输入日期进行搜索即可找到。
寻找扫描文件的方法二:
打印机驱动安装以后都会有一个打印机【多功能机】辅助软件,我们打开以后,在扫描后面的文件夹中可以找到。
打印机扫描文件到Windows系统电脑的方法:
1.首先把文件背面朝上,放到打印机文件放置栏(左上角贴边)。然后盖上压板,启动扫描按钮。
2.接下来按下键盘Win键(键盘左下方Ctrl键与Alt之间的那个键),下拉“开始菜单”,并找到“Windows附件”。
3.点击“Windows附件”,接着点击里面的“Windows传真和扫描”。
4.在传真和扫描页面点击上面的“新扫描”就会看到打印机所扫描到的'文件。
5.或者双击桌面上“我的电脑”图标,在“我的电脑”中找到“我的文档”文件夹里找到一个叫“已扫描的文档”或以当天日期命名的文件夹,里面就是您扫描的东西啦。
6.以上步骤便是打印机扫描文件到电脑的方法,该方法适合那些自购的打印机,如果是租凭的打印机,则需要服务人员提供的扫描软件进行扫描。
调整样品台倾斜角度!一种所谓机械对中样品台在这个调解过程中,虽然不能精确的保证样品倾斜时严格以同一个轴线来调整,但基本观察视野不会跑,不离焦!这样翻过来调过去的看,你就看清楚了!稍微多讲点有关EM立体成像技术:
1950年代,美国科学家在实验室,第一次使用SEM弄出了立体对,那时SEM还没有商品化!在一般摄影上被称作全息照相!
现在FEI公司有这样的选购软件,可以用在SEM或TEM上。自动控制样品台按照一定角度间隔倾斜,且保证倾斜同轴,每个角度保存一幅图像,然后把N个图像合成一个立体图像,是最为精准的技术。SEM形成表面立体形貌像,TEM的立体像和CT效果相同。由于要求样品台精度极高,且运算复杂,价格贼贵!
为了简化操作,节约成本,只看个大概!最常用的立体对方法是样品角度不变,电子束以一定允许的夹角从两个方向分别扫描一张图像,一张红色伪彩,一张绿色伪彩。把两张照片叠加,形成红绿重影像!然后戴个红绿镜片眼镜,也可看到立体图像,解决你的问题!
除了立体对技术,还有就是线扫描Y增益的示波器技术!
有些扫描电镜带有示波器,扫描发生器让电子束在划定的直线上扫描,然后把信号曲线画在直线上方,因为图像信号强度是电子束与像素表面角度的函数,一般认为曲线的高低起伏代表样品的高低起伏。如果将一帧图像均做Y增益,即可用软件合成一幅立体表面形貌像。有些厂商忽悠客户说此为表面立体像,其实很不严谨,因为很多时候会有假象存在,基本上没有实用价值,很多厂商取消了这个功能!
如果没有做以上的多角度观察,那就要考验成像信号的判断。就这张图像而言,可以肯定:金字塔在基底上凸起!棱角凸起信号强度高,发亮;凹陷信号强度低,发暗!
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