不导电材料能谱分析的问题

可以，做SEM时，电子射入材料时是散射开的，纵向截面类似于一个葫芦形，所以它探测到的反射能谱不是最表面的材料，如果你入射能量大，甚至可以深入材料几个微米的深度。所以SEM能谱分析得出的不是最表面那几层原子，还要更深一些，是一个葫芦状微观三维区域的原子能谱。

镀金膜导电可以让表面形貌的图像更清晰，但是仪器会自动将能谱里的金峰标出，不会影响其他元素的判断。

文献里看不到金峰，可能是由于作者只取了对自己有用的那一段能谱进行说明，而没有打出全部能谱

扫描电镜对不导电样品的处理是比较常见的问题，可以采用的方法有几种。

尽量将块状样品做小，甚至做成粉末，使样品与样品座的接触良好。

对观察样品进行镀金或喷碳处理，使样品表面形成导电膜，利于电荷流走。

最好再用导电胶将喷碳或喷金后的样品表面与样品座（台）连接，以减少电子积累。

对于无法很好解决放电效应对图像影响的，可以加快扫描速度，或用集成模式采集图像，以抑制电荷积累。

用扫描电镜的背散射探头采集图像，几乎不会有放电效应，因为背散射信号强度比较高，不会为放电电荷干扰。

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